場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡說(shuō)明介紹

簡(jiǎn)介 日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍，實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí)，穩(wěn)定的束流亦可滿足長(zhǎng)時(shí)間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號(hào)，通過(guò)真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等的一種分析儀器。 工作原理 SU8200掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于納米技術(shù),半導(dǎo)體及電子產(chǎn)品,碳材料,生物及制藥、納米材料、新能源。 技術(shù)參數(shù)

• 分辨率1.1nm/1kV、0.8nm/15kV
• 加速電壓0.5-30kKV
• 放大倍率20-1000000（底片輸出）
• 馬達(dá)臺(tái)5軸

選型原則 檢測(cè)能力：形貌、成分分析 應(yīng)用案例 下單網(wǎng)址：www.foftest.com 設(shè)備結(jié)構(gòu)     日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍，實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí)，穩(wěn)定的束流亦可滿足長(zhǎng)時(shí)間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號(hào)，通過(guò)真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等的一種分析儀器。

上一個(gè)： 拉曼光譜儀 下一個(gè)： 雙向觀測(cè)全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀