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無錫東立智能技術(shù)有限公司的電子探針EPMA-1720 Series從軟件到硬件凝結(jié)了最新技術(shù),鑄就了新一代EPMA.島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上,又新增了簡單·易懂的操作性能,將電子探針功能發(fā)揮至極致.既可滿足初學(xué)者簡易操作的需求,又能適合專家級的科研分析.
完美設(shè)計的X射線分光器可以實現(xiàn)高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能,52.5°高取出角更勝一籌
圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵(Fe)、右下圖為鈦(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析,簡便易行,大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像
在同一個顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需點擊【SEM AUTO】圖標,就可以根據(jù)事先設(shè)定的條件進行SEM圖像的觀察。
只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設(shè)定束流。
通過聯(lián)動控制,束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態(tài)。