XRF（X 射線熒光）巖芯掃描儀最初設(shè)計(jì)用于快速、無損測(cè)定船上和岸上實(shí)驗(yàn)室的海洋底部 沉積物的化學(xué)成分。海洋底部沉積物通常通過箱形巖芯、重力巖芯和活塞巖芯進(jìn)行取樣，并 收集在塑料管中，然后將以長度剖開。XRF 測(cè)量在分裂磁芯上進(jìn)行。 例如，XRF 核芯掃描儀能夠在 30 分鐘內(nèi)以 1 厘米的樣本分辨率對(duì)一米長的巖芯進(jìn)行完整掃 描。如果化學(xué)數(shù)據(jù)顯示巖芯不包含某些預(yù)期信息或取芯時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤，則可以在同一區(qū)域取新 巖芯。 巖芯掃描儀配備有一個(gè)電動(dòng)門，可通往巖芯裝配系統(tǒng)。堆芯裝配系統(tǒng)可以借助機(jī)械系統(tǒng)調(diào)整 分裂巖芯的位置。 XRF 分析方法需要將 X 射線源和檢測(cè)器準(zhǔn)確定位在沉積物表面上方。因 此，即使巖心切割得不太均勻，計(jì)算機(jī)控制的系統(tǒng)也可以準(zhǔn)確地定位巖心和儀器。 精確的 XRF 分析的要求是水平面。但是，除了分裂的沉積物芯外，其他樣品架也可以在掃 描儀中安裝和測(cè)量。例如，可以很容易地測(cè)量顯微鏡玻璃上的樣品。 Avaatech XRF 巖芯掃描儀將在最短的時(shí)間內(nèi)以最高的精確度為您提供巖芯樣品的化學(xué)成 分。 XRF（X 射線熒光）分析方法要求 X 射線源和探測(cè)器精確定位在表面上方。X 射線管產(chǎn)生的 X 射線照射樣品。樣品中存在的元素發(fā)射具有這些元素特征的離散能量的熒光 X 射線輻射。 通過測(cè)量能量和強(qiáng)度，可以確定這些元素中有哪些和多少。這種方法提供了最準(zhǔn)確的結(jié)果。 第四代 XRF 巖芯掃描儀的技術(shù)規(guī)格 XRF 掃描儀（標(biāo)準(zhǔn)）：: L=2953 mm, W =925 mm, H = 1775 mm