掃描電子顯微鏡是利用二次電子進(jìn)行顯微形貌分析的電子顯微分析設(shè)備。JSM-6700F由于采用了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和特殊的物鏡設(shè)計(jì)加工技術(shù),因此具有很高的分辨率:1nm/15KV,是微米乃至納米級(jí)顯微形貌分析的主要儀器。其主要應(yīng)用于金屬、新材料、半導(dǎo)體以及生物、工業(yè)研究等領(lǐng)域。
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