XL2 Plus手持式XRF光譜分析儀 2299     

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Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結(jié)果。Niton XL2 Plus 通過專有2W x- 射線管、動態(tài)電流調(diào)節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供很好的靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質(zhì)效應(yīng)以獲得準(zhǔn)確結(jié)果。

XL2 100G手持式合金光譜分析儀 1718     

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在廢舊合金回收，機械加工等行業(yè)，能夠肉眼區(qū)分辨別的合金材料種類有限。針對這些低附加值行業(yè)中常規(guī)合金牌號材料的鑒別區(qū)分，尼通推出了具有競爭力的XL2 100G 手持式X熒光光譜儀，該機具有經(jīng)濟實用、快速、機體耐用和傻瓜型易用的優(yōu)點。

XL3t 手持式合金光譜分析儀 1447     

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XL3t在原有XL2型基礎(chǔ)上增加了選配的小點測試和內(nèi)置CCD攝像頭對焦功能，可采用1mm光路準(zhǔn)直系統(tǒng)針對焊點，焊縫等小測試區(qū)域進行針對性測試。

XL2 手持式合金光譜分析儀 1489     

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在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、安全防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用領(lǐng)域中，合金牌號鑒別、金屬成分快速分析，對實驗室分析來說是一項挑戰(zhàn)。現(xiàn)在，這一切發(fā)生了根本性的變化，賽默飛Niton——正在引發(fā)一場元素分析領(lǐng)域的革命：快速精確的分析結(jié)果，昂貴分析成本的大幅降低，重大決策的快速制定，均可在扣動尼通XRF分析儀扳機的剎那間輕松實現(xiàn)。 ??

XL5Plus手持式合金光譜分析儀 1443     

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合金成分和牌號的檢驗對于回收站、金屬材料加工廠和金屬質(zhì)量管理等極為重要。檢驗員通常要在充滿挑戰(zhàn)的工作環(huán)境中快速精確確定各種類型的金屬材料的分和牌號。 XL5Plus手持式合金分析儀，將手持式X熒光技術(shù)與現(xiàn)代工業(yè)測試需求相結(jié)合。 賽默飛世爾（Thermo Fisher Scientific），原稱美國熱電集團，尼通(Niton)是其旗下品牌。作為手持式X射線熒光（XRF）分析儀器制造行業(yè)的佼佼者。尼通新發(fā)布的XL5Plus系合金分析儀加入人性化設(shè)計，具有小巧，快速，精準(zhǔn)，穩(wěn)定的設(shè)計。

FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀 1997     

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FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀是朗鐸科技精湛的元素檢測技藝與客戶利益的精準(zhǔn)結(jié)合，開創(chuàng)了檢驗級手持式光譜儀人工智能發(fā)展的新方向。朗鐸科技與國外光電子研究機構(gòu)聯(lián)合研發(fā)，在國際XRF領(lǐng)域掀起了一波新的數(shù)字革命浪潮。

FASO 智能在線成分光譜分析儀 1419     

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客戶通過光譜儀手動/自動檢測樣品，數(shù)據(jù)會自動上傳到分析儀，分析儀處理分析數(shù)據(jù)，根據(jù)事先設(shè)定的程序，發(fā)送I/O指令，聯(lián)動其他設(shè)備完成檢測。注：自動檢測、設(shè)備聯(lián)動，需要其他設(shè)備配合。

Niton Apollo手持激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)分析儀 1659     

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發(fā)現(xiàn)Thermo Scientific? Niton? Apollo? 手持式 LIBS分析儀。設(shè)計幫助您克服棘手的分析挑戰(zhàn)，Niton Apollo 是專門測量碳含量的實用、便攜式設(shè)備。在激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 的驅(qū)動下，Niton Apollo 提供了非?？斓乃俣取⑿袠I(yè)內(nèi)較高水平的性能，提高了生產(chǎn)效率。它將實驗室分析方法帶到現(xiàn)場并帶來了巨大可能性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3294     

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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。 利用200KV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。

紅外光譜儀 2788     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內(nèi)分析具有挑戰(zhàn)性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產(chǎn)品的分析任務(wù)的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統(tǒng)傅立葉變換紅外光譜儀的數(shù)據(jù)分析，樣品采集和儀器驗證環(huán)節(jié)，成為完成這類分析任務(wù)的一種較好的選擇為確保儀器性能而設(shè)計系統(tǒng)性能確認(rèn)（SP）是一個確保光譜儀長期穩(wěn)定運行的有力工具。

熱重分析儀 2958     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統(tǒng)。具有如下顯著優(yōu)點：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應(yīng)性更佳。同步熱分析儀根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對應(yīng)的物化過程（如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應(yīng)溫度處知道樣品的當(dāng)前實際質(zhì)量，有利于反應(yīng)熱焓的準(zhǔn)確計算。

紫外可見近紅外分光光度計 2683     

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島津UV－3600是世界領(lǐng)先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計，性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學(xué)分析實驗室必備的常用儀器設(shè)備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應(yīng)用。島津的紫外可見分光光度計產(chǎn)品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區(qū)域的UV－VIS－NIR分光光度計。

球差電鏡測試 2549     

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JEM-ARM200F差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進行高水平表征檢測。用于納米科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的科研項目。

工業(yè)CT 2585     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統(tǒng)?？蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內(nèi)部細(xì)節(jié)，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數(shù)實現(xiàn)高分辨率和高襯度成像觀察細(xì)節(jié)特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經(jīng)考驗的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質(zhì)量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。

差示掃描量熱儀 3048     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進。儀器在易于操作的同時提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業(yè)在內(nèi)的諸多行業(yè)進行產(chǎn)品研發(fā)，質(zhì)量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計 2619     

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洛氏硬度計是世界上第一臺依據(jù)洛氏硬度試驗原理設(shè)計的，只需要單側(cè)接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計，依靠磁力將洛氏硬度計測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進行支撐，測試精度符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計。利用磁力吸盤將硬度計固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動 工件，只要單側(cè)接觸即可完成測試。

數(shù)顯顯微維氏硬度計 2096     

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HVS-50型數(shù)顯維氏硬度計是光機電一體化的高新技術(shù)產(chǎn)品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負(fù)荷維氏硬度計的升級換代產(chǎn)品。

X射線熒光光譜儀 3250     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達84種元素。可選四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優(yōu)化性能還可優(yōu)化日常和苛刻應(yīng)用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項應(yīng)用廣泛的分析技術(shù)，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進行元素分析。

X射線光電子能譜儀 2651     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學(xué)價態(tài)以及相對含量。結(jié)合離子刻蝕技術(shù)還可以獲得元素及化學(xué)態(tài)深度分布信息；通過成像技術(shù)可以獲得元素及化學(xué)態(tài)的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區(qū)表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3303     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2081     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態(tài)光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態(tài)光散射測量分子量。動態(tài)光散射檢測由于顆粒布朗運動而產(chǎn)生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，再通過數(shù)字相關(guān)器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數(shù)。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統(tǒng) 2290     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結(jié)合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應(yīng)用效率。

X射線衍射儀 2581     

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X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

拉曼光譜儀 2310     

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拉曼光譜儀是測定分子振動光譜的儀器，可用于有機化合物、無機化合物、高分子聚合物、生物膜等各種材料的結(jié)構(gòu)特性分析。采用共焦光路設(shè)計，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；與紅外光譜互補， 是分析物質(zhì)組分、結(jié)構(gòu)等的光譜分析手段之一。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡 3112     

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日立場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等的一種分析儀器。

原子力顯微鏡 2868     

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DIMENSION ICON 可以實現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達：直徑210MM，厚度15MM。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

EBSD背散射 2085     

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EBSD——電子背散射衍射儀——是一種強大的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。 SYMMETRY是牛津儀器公司基于CMOS技術(shù)發(fā)展的全新一代EBSD探測器，擁有空前的性能和易用性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3029     

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TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進行選區(qū)電子衍射，能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點、線掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。