場發(fā)射透射電子顯微鏡 3294     

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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。 利用200KV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。

紅外光譜儀 2788     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時(shí)間內(nèi)分析具有挑戰(zhàn)性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實(shí)驗(yàn)室對能夠高效完成原材料和最終產(chǎn)品的分析任務(wù)的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統(tǒng)傅立葉變換紅外光譜儀的數(shù)據(jù)分析，樣品采集和儀器驗(yàn)證環(huán)節(jié)，成為完成這類分析任務(wù)的一種較好的選擇為確保儀器性能而設(shè)計(jì)系統(tǒng)性能確認(rèn)（SP）是一個(gè)確保光譜儀長期穩(wěn)定運(yùn)行的有力工具。

熱重分析儀 2958     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統(tǒng)。具有如下顯著優(yōu)點(diǎn)：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應(yīng)性更佳。同步熱分析儀根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對應(yīng)的物化過程（如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應(yīng)溫度處知道樣品的當(dāng)前實(shí)際質(zhì)量，有利于反應(yīng)熱焓的準(zhǔn)確計(jì)算。

紫外可見近紅外分光光度計(jì) 2683     

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島津UV－3600是世界領(lǐng)先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計(jì)，性能卓越。紫外可見分光光度計(jì)是每個(gè)化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室必備的常用儀器設(shè)備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應(yīng)用。島津的紫外可見分光光度計(jì)產(chǎn)品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計(jì)到測量范圍可以擴(kuò)展到深紫外、近紅外區(qū)域的UV－VIS－NIR分光光度計(jì)。

球差電鏡測試 2550     

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JEM-ARM200F差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測。用于納米科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的科研項(xiàng)目。

工業(yè)CT 2585     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點(diǎn)計(jì)算斷層掃描系統(tǒng)?？蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內(nèi)部細(xì)節(jié)，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率和高襯度成像觀察細(xì)節(jié)特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經(jīng)考驗(yàn)的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質(zhì)量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。

差示掃描量熱儀 3049     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強(qiáng)有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進(jìn)。儀器在易于操作的同時(shí)提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業(yè)在內(nèi)的諸多行業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品研發(fā)，質(zhì)量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計(jì) 2620     

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洛氏硬度計(jì)是世界上第一臺依據(jù)洛氏硬度試驗(yàn)原理設(shè)計(jì)的，只需要單側(cè)接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計(jì)，依靠磁力將洛氏硬度計(jì)測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進(jìn)行支撐，測試精度符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計(jì)。利用磁力吸盤將硬度計(jì)固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動(dòng) 工件，只要單側(cè)接觸即可完成測試。

數(shù)顯顯微維氏硬度計(jì) 2096     

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HVS-50型數(shù)顯維氏硬度計(jì)是光機(jī)電一體化的高新技術(shù)產(chǎn)品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負(fù)荷維氏硬度計(jì)的升級換代產(chǎn)品。

X射線熒光光譜儀 3251     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達(dá)84種元素?？蛇x四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優(yōu)化性能還可優(yōu)化日常和苛刻應(yīng)用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項(xiàng)應(yīng)用廣泛的分析技術(shù)，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進(jìn)行元素分析。

X射線光電子能譜儀 2651     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學(xué)價(jià)態(tài)以及相對含量。結(jié)合離子刻蝕技術(shù)還可以獲得元素及化學(xué)態(tài)深度分布信息；通過成像技術(shù)可以獲得元素及化學(xué)態(tài)的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區(qū)表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3305     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2081     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價(jià)比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動(dòng)態(tài)光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態(tài)光散射測量分子量。動(dòng)態(tài)光散射檢測由于顆粒布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的散射光的波動(dòng)隨時(shí)間的變化。檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，再通過數(shù)字相關(guān)器的運(yùn)算處理，得到顆粒在溶液中擴(kuò)散的速度信息，即擴(kuò)散系數(shù)。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統(tǒng) 2291     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強(qiáng)大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結(jié)合。無論是加工、成像或進(jìn)行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應(yīng)用效率。

X射線衍射儀 2581     

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X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

拉曼光譜儀 2310     

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拉曼光譜儀是測定分子振動(dòng)光譜的儀器，可用于有機(jī)化合物、無機(jī)化合物、高分子聚合物、生物膜等各種材料的結(jié)構(gòu)特性分析。采用共焦光路設(shè)計(jì)，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；與紅外光譜互補(bǔ)， 是分析物質(zhì)組分、結(jié)構(gòu)等的光譜分析手段之一。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡 3114     

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日立場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí)，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時(shí)間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等的一種分析儀器。

原子力顯微鏡 2868     

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DIMENSION ICON 可以實(shí)現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210MM，厚度15MM。溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

EBSD背散射 2086     

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EBSD——電子背散射衍射儀——是一種強(qiáng)大的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。 SYMMETRY是牛津儀器公司基于CMOS技術(shù)發(fā)展的全新一代EBSD探測器，擁有空前的性能和易用性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3029     

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TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個(gè)多功能、多用戶環(huán)境的200KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點(diǎn)、線掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。