熔鹽電導(dǎo)率測(cè)試儀 826     

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1. 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單； 2.擁有導(dǎo)向式電導(dǎo)池專(zhuān)利技術(shù)，測(cè)量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)、穩(wěn)定； 3. 采用小型電爐，小尺寸坩堝，實(shí)驗(yàn)成本低； 4. 爐底升降，取放試料方便。

熔鹽物性綜合測(cè)試儀 823     

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RT-6熔鹽物性綜合測(cè)試儀的主要功能是測(cè)量熔鹽的密度、表面張力、電導(dǎo)率和初晶溫度，還可以利用設(shè)備的熱稱(chēng)重系統(tǒng)和精確定位系統(tǒng)開(kāi)展相應(yīng)的研究工作，例如研究熔鹽的揮發(fā)損失。 本設(shè)備采用陶瓷纖維整體爐膛、雙螺旋硅碳管、程序控溫系統(tǒng)、不銹鋼爐殼。 本設(shè)備采用伺服系統(tǒng)控制升降臺(tái)和測(cè)量電極精準(zhǔn)定位，配合測(cè)控軟件實(shí)現(xiàn)了熔體液面的自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量電極的精確移動(dòng)，為高精度的測(cè)量提供了基礎(chǔ)。 本設(shè)備擁有2項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)，保持著測(cè)量方法和實(shí)驗(yàn)技術(shù)的先進(jìn)性，為高精度熔鹽物性測(cè)量提供了有力保證。

接觸式高精度鉑熱電阻測(cè)溫儀 900     

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本儀器是一款使用PT1000鉑熱電阻作為傳感器測(cè)量溫度信號(hào)的高精度熱電阻溫度計(jì)。大液晶屏幕顯示，0.01高顯示分辨率，測(cè)量精度可達(dá)±0.1℃。具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與查詢功能。廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)實(shí)驗(yàn)、質(zhì)量控制、冷藏存儲(chǔ)、汽車(chē)制造等多種場(chǎng)合。

高溫真空粘度儀 1389     

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本儀器是基于旋轉(zhuǎn)法而研制的熔體粘度儀，可實(shí)現(xiàn)在真空或保護(hù)氣氛下測(cè)試玻璃、渣類(lèi)以及煤灰保護(hù)渣等材料的粘度。

熔鹽粘度儀 1392     

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本儀器是基于旋轉(zhuǎn)法而研制的熔鹽粘度儀，專(zhuān)用于高溫低粘度液態(tài)熔鹽樣品的粘度測(cè)量。

熔鹽物性綜合測(cè)試儀 1362     

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本產(chǎn)品主要用于高溫液態(tài)熔鹽的密度、電導(dǎo)率、初晶溫度和表面張力的測(cè)量。

振蕩杯粘度儀 1376     

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本產(chǎn)品是基于扭擺法原理，為非接觸式高分辨測(cè)量，尤其適用于大密度、低粘度合金或金屬的粘度測(cè)試。

電子分析天平 1433     

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FA1004A電子分析天平人性化設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)新穎、五面全透明的玻璃防風(fēng)罩。采用電磁平衡稱(chēng)量傳感器，保證了產(chǎn)品的高精度。具有全自動(dòng)故障檢測(cè)，線性四點(diǎn)校準(zhǔn)，超載保護(hù)的保障。應(yīng)用行業(yè)：廣泛應(yīng)用于制藥業(yè)、化學(xué)工業(yè)、電子及半導(dǎo)體行業(yè)、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業(yè)等行業(yè)。

鹵素快速水分測(cè)定儀 1454     

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深圳艾瑞斯ARS-SF10鹵素快速水分測(cè)定儀操作簡(jiǎn)單，無(wú)需安裝、調(diào)試、培訓(xùn)，拆箱即可使用；彩色觸摸電容屏設(shè)計(jì)，實(shí)時(shí)顯示樣品狀態(tài)，一鍵式測(cè)定水分設(shè)計(jì)，自動(dòng)停機(jī)并顯示水分含量。應(yīng)用行業(yè)：廣泛應(yīng)用于制藥業(yè)、化學(xué)工業(yè)、電子及半導(dǎo)體行業(yè)、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業(yè)等行業(yè)。

黑色金屬電腦多元素分析儀 2034     

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黑色金屬電腦元素分析儀器NJS-ZN207型可檢測(cè)多種材料：普通鋼、低合金鋼、不銹鋼、生鑄鐵、球墨鑄鐵、耐磨鑄鐵、合金鑄鐵、有色金屬、鐵礦石、鐵合金、鋁合金、銅合金中的多元素含量等。檢測(cè)結(jié)果直接電腦顯示，臺(tái)式打印機(jī)直接打印，并可打印各元素符號(hào)。

手持礦石分析光譜儀 2037     

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GF-5700手持礦石分析光譜儀可分析銅 鐵 鈦 釩 鉻 錳 鈷 鎳 鋅 鍶 鋯 鉭 鈮 鉬 錫 銻 鉿 鎢 鉛等自然礦石；暫時(shí)不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O，Mg, S, P, Si；現(xiàn)場(chǎng)快速分析各種金屬礦石化學(xué)成份及品位，滿足國(guó)內(nèi)外各種條件差、沒(méi)有分析試驗(yàn)室礦山單位，用于快速分析礦石成份及品位需求。溫度-35～+50℃，濕度＜80%RH。

激光手持光譜儀 4529     

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QR-L1利用高能量聚焦脈沖激光光束激發(fā)樣品表面，對(duì)產(chǎn)生的原子光譜通過(guò)算法分析得到對(duì)應(yīng)元素成分及含量,這是一種迅速定性及定量的工業(yè)應(yīng)用分析技術(shù)。

管式爐紅外碳硫分析儀 5266     

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QIR2002C型主要適用于鋼鐵、稀土金屬、鐵合金、磁性材料、有色金屬、碳化物、陶瓷、無(wú)機(jī)物、石墨、耐火材料、鐵礦、催化劑、爐渣、水泥、煤、焦炭、巖石及其它材料中碳、硫兩元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)的測(cè)定。

金相分析檢測(cè)專(zhuān)用中低速精密切割機(jī) 6215     

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中低速精密切割機(jī)，設(shè)計(jì)緊湊，依靠重力提供恒定的進(jìn)給率自動(dòng)切割，樣品產(chǎn)生的變形小，切口損失率低。適用于各種金屬材料，線路板和半導(dǎo)體等的精密切割。設(shè)備配有多種夾具，可切割不規(guī)則形狀的工件，是企業(yè)和科研院校理想的精密切割設(shè)備。

無(wú)級(jí)變速金相分析研磨拋光機(jī) 6114     

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雙盤(pán)雙控手動(dòng)磨拋機(jī)是集金相試樣預(yù)磨、研磨和拋光等多功能于一體，動(dòng)力 強(qiáng)，噪音低，堅(jiān)固耐用，操作簡(jiǎn)單，每個(gè)工作盤(pán)可獨(dú)立控制啟停和調(diào)整速度，兩人可以同 時(shí)獨(dú)立操作，是企業(yè)和科研院校理想的研磨拋光機(jī)。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 3231     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無(wú)關(guān)?？烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 3195     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 3222     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經(jīng)過(guò)30多年的發(fā)展后，從形貌測(cè)試及其它常規(guī)功能來(lái)看已經(jīng)非常成熟。然而常規(guī)的原子力顯微鏡也越來(lái)越無(wú)法滿足科研人員在納米尺度下對(duì)于樣品進(jìn)行多性質(zhì)原位測(cè)試分析的需求，尤其在化學(xué)、光學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等領(lǐng)域。 在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長(zhǎng)可調(diào)的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類(lèi)拉曼光譜儀

VITA　反應(yīng)離子刻蝕機(jī)（垂直腔室） 1840     

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反應(yīng)離子刻蝕系統(tǒng)，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 2058     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測(cè)儀。可以同時(shí)得到細(xì)胞原位明場(chǎng)成像、SPR成像、及SPR動(dòng)力學(xué)曲線定量親和常數(shù)、結(jié)合解離常數(shù)，它為免標(biāo)記研究分子相互作用的領(lǐng)域開(kāi)辟一個(gè)嶄新的前沿。專(zhuān)門(mén)針對(duì)細(xì)胞膜蛋白和相關(guān)分子免標(biāo)記檢測(cè)而設(shè)計(jì)的SPRm200， 使您在不需要從細(xì)胞中提取和分離膜蛋白的前提下實(shí)時(shí)觀察細(xì)胞結(jié)構(gòu)并同時(shí)測(cè)量藥物和靶點(diǎn)在細(xì)胞上的結(jié)合過(guò)程。還可進(jìn)行對(duì)藥物和在天然狀態(tài)下的膜蛋白之間相互作用的測(cè)量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 2158     

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NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測(cè)試、柱壓縮等測(cè)試中表現(xiàn)出色，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測(cè)量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測(cè)儀 1862     

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KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對(duì)半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行先進(jìn)的表面檢測(cè)。Candela系列既能夠檢測(cè)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對(duì)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料進(jìn)行檢測(cè)，成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學(xué)表面分析（OSA）專(zhuān)用技術(shù)，可同時(shí)測(cè)量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移，為特征缺陷（DOI）進(jìn)行自動(dòng)偵測(cè)與分類(lèi)。OSA檢測(cè)技術(shù)結(jié)合散射測(cè)量、橢圓偏光、反射測(cè)量與光學(xué)形狀分析等基本原理，以非破環(huán)性方式對(duì)Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測(cè)試儀 1722     

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Filmetrics的薄膜電阻測(cè)量設(shè)備開(kāi)發(fā)源自于有著超過(guò)30年經(jīng)驗(yàn)的KLA的薄膜電阻計(jì)量技術(shù)，并由20年臺(tái)式測(cè)量設(shè)備開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)的Filmetrics團(tuán)隊(duì)完善了桌面式方塊電阻測(cè)量產(chǎn)品。KLA薄膜電阻測(cè)量技術(shù)包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測(cè)量?jī)x器可測(cè)量沉積在多種基材上的導(dǎo)電片和薄膜，跨越10個(gè)數(shù)量級(jí)范圍電阻率，包括：半導(dǎo)體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽(yáng)能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 1791     

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Desk V樣品制備系統(tǒng)配制用于蒸發(fā)和濺射，是一種高生產(chǎn)率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復(fù)的結(jié)果。 Desk V鍍膜系統(tǒng)提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機(jī)選項(xiàng)，專(zhuān)為高分辨率顯微鏡樣品設(shè)計(jì)，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導(dǎo)電鍍膜，其熱蒸發(fā)選項(xiàng)可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 1767     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無(wú)關(guān)。可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 1765     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 2124     

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在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長(zhǎng)可調(diào)的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類(lèi)拉曼光譜儀進(jìn)行聯(lián)用，組成原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)，以滿足科研人員在納米尺度下的測(cè)試需求。

P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀 1764     

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KLA是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)較大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、 MEMS 、太陽(yáng)能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。 P-7建立在市場(chǎng)領(lǐng)先的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。從可靠性表現(xiàn)來(lái)看， P-7具有較好的測(cè)量重復(fù)性。UltraLite?傳感器具有動(dòng)態(tài)力控制，

實(shí)驗(yàn)室合金顎式破碎機(jī) 4660     

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LHMY-HJ125x150顎式合金破碎機(jī) 一、概述： 顎式合金破碎機(jī)主要用于化驗(yàn)室，對(duì)原材料的中碎和細(xì)碎,其破碎方式為曲動(dòng)擠壓式。被破碎物料的大塊度應(yīng)小于其選用機(jī)器型號(hào)料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗壓強(qiáng)度為中等硬度。配用合金材質(zhì)鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定貨。

場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 3294     

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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。 利用200KV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。