設備主要利用微波測試原理,非接觸式測量射頻HEMT結構半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度??蓪崿F單點測試, 亦可以實現面掃描的測試功能,具有快速,無損,準確等優(yōu)勢,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質量控制。 特點 適用于遷移率量測范圍在100cm2/V ? s~3000cm2/V ? s 的射頻HEMT外延片。非接觸,非損傷測試,具有測試速度快, 重復性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片等優(yōu)點。
設備主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導體材料,石墨烯,透明導電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。 可實現單點測試,亦可以實現面掃描的測試功能,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質量控制。 本儀器為非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,重復性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片。
非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV.汞CV. ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。 憑借技術和豐富的產品設計經驗,申請各項知識產權17余項,已發(fā)展成為中國大陸少數具有一定競爭力的半導體專用設備提供商,產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。
XNDT-101主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統(tǒng)和主機電腦組成,實現對鑄造件內部缺陷的在線檢測。
XNDT-102便攜式成像系統(tǒng)由1個探測器盒、1臺便攜式射線源和1臺筆記本電腦組成,可用于公共安全場合的包裹安全檢查、工業(yè)無損檢測等。
先進的半電池測量儀器,可對腐蝕電位進行現場映射。專用軟件可使用棒式和輪式電極進行輔助測量。統(tǒng)計軟件可直接進行數據分析。
簡單直觀的金屬硬度檢測 – Equotip Bambino 2 是獨立的,不會將指示平臺與線纜分離開來。Equotip Bambino 2 是一款經濟實惠、使用方便的便攜式回彈檢測儀,可測量大多數金屬的硬度。 它的結構輕巧緊湊,并配有創(chuàng)新的沖擊設備 D,具有無可比擬的性價比。
新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設計的界面,提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外,該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產品。 全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質
用于刮擦敏感、拋光及細小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測儀。它通過微米級的細小穿透能力及靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。
世界上首款無線 UCI 檢測儀。Equotip Live UCI 為便攜式硬度檢測創(chuàng)造了新機會。您可使用 Equotip iOS 在遠程位置執(zhí)行測量并讓您的團隊即時訪問您的結果。無需親自運送 U 盤或通過電子郵件手動發(fā)送報告。
用于金屬和復合材料零件的探傷、實現便攜且用戶友好的超聲波測試
PaperSchmidt 是首款專門為測試紙卷分析數據而設計的集成回彈儀。它具有高精度和可重復性,可實時提供評估紙卷質量所需的所有關鍵參數。PaperSchmidt 具有更長的使用壽命,以應對造紙工業(yè)的繁重需求。
RockSchmidit是 SilverSchmidt的另一特定版本,專門適用于巖石檢測應用,如UCS關聯(lián)或預測隧道鉆孔機器和旋轉輥式切料機的穿透率。
全而適用:只需一臺設備,既可獨立運作,又可聯(lián)網貨在線生產,甚至可以開展非接觸式生產。 極致便攜:有史以來最小巧、最輕盈的實時光澤儀,憑借人體工程學設計盒細小支撐而積,輕松測量各方向的狹窄、彎曲空間。 數字技術:智能化軟件讓您能夠通過語音、照片和備注為測量數據增添注釋。生產報告,還可與同事和客戶立即共享。隨時隨地都可訪問數據。
靈活的 UCI 硬度檢測儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細粒材料。可調節(jié)檢測可負載和涵蓋廣泛的測試范圍。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。