本發(fā)明涉及一種離子型
稀土礦浸礦盲區(qū)探測(cè)方法及系統(tǒng),方法包括:將電阻率儀的多條測(cè)試線沿山脊走向布置,利用多條測(cè)試線對(duì)礦體進(jìn)行探測(cè),得到每條所述測(cè)試線探測(cè)的視電阻率數(shù)據(jù);各所述測(cè)試線均包括多個(gè)電極,每條所述測(cè)試線上的相鄰兩個(gè)所述電極的間距按照山體的不同地形特征設(shè)置;所述礦體在所述山體內(nèi)部;對(duì)所述視電阻率數(shù)據(jù)進(jìn)行反演,得到每條所述測(cè)試線的視電阻率剖面圖;將所述視電阻率剖面圖中大于設(shè)定閾值的電阻率對(duì)應(yīng)的礦體區(qū)域確定為高阻異常區(qū);所述高阻異常區(qū)為浸礦盲區(qū)的位置。本發(fā)明主要通過(guò)高密度電阻率儀探測(cè)技術(shù),對(duì)浸礦的礦體進(jìn)行測(cè)線定點(diǎn)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)反演,從而得到探測(cè)的浸礦盲區(qū)的位置,實(shí)現(xiàn)了浸礦盲區(qū)的精準(zhǔn)定位。
聲明:
“離子型稀土礦浸礦盲區(qū)探測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)