本發(fā)明提供一種基于聯(lián)合剖面的二維電法勘探方法。本發(fā)明基于電法勘探中的聯(lián)合剖面法獲取某測(cè)線的所有記錄點(diǎn)的兩個(gè)方向的電阻率、極化率等電法數(shù)據(jù),對(duì)相同記錄點(diǎn)、兩個(gè)方向、相同極距的電阻率、極化率等電法數(shù)據(jù)分別進(jìn)行平均值和差值的絕對(duì)值等綜合處理,主要選擇相關(guān)電法參數(shù)的差值的絕對(duì)值的極大值點(diǎn)進(jìn)行異常體的異常寬度判斷,并進(jìn)行綜合解譯,從而在不增加野外工作量的前提下,提高聯(lián)合剖面法的勘探效果。本發(fā)明能提高聯(lián)合剖面法的電法勘探效果和精度,增加對(duì)地質(zhì)異常體的識(shí)別度。
聲明:
“基于聯(lián)合剖面的二維電法勘探方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)