本發(fā)明公開了一種地質(zhì)雷達數(shù)據(jù)精細處理方法及系統(tǒng),其中所述方法包括調(diào)用預(yù)設(shè)的每道采樣點數(shù);讀取或解密地質(zhì)雷達數(shù)據(jù);利用雙線性插值算法轉(zhuǎn)換地質(zhì)雷達數(shù)據(jù);生成色標并完成快速成像;采用迭加處理或單獨處理模式,調(diào)用多種處理方法對地質(zhì)雷達數(shù)據(jù)進行處理;對選定的異常區(qū)域進行雙線性插值處理以實現(xiàn)顯微鏡功能,重復(fù)執(zhí)行上一步驟實現(xiàn)對選定的異常區(qū)域的精細處理;最后存儲經(jīng)處理完成的地質(zhì)雷達圖像。本發(fā)明在基于Linux的QT-CUDA聯(lián)合編譯架構(gòu)下開發(fā)完成了一種快速一體化地質(zhì)雷達精細處理系統(tǒng),可廣泛應(yīng)用于地質(zhì)雷達數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域,從而拓展地質(zhì)雷達的應(yīng)用能力及范圍。
聲明:
“地質(zhì)雷達精細處理方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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