本發(fā)明公開了一種基于離子減薄的電子顯微三維重構(gòu)地質(zhì)樣品制樣方法,涉及地質(zhì)行業(yè)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,所述方法包括以下步驟;S1、將目標(biāo)樣品切割成一維方向延伸的棒狀、條狀或線狀;S2、對(duì)獲得的一維方向延伸樣品進(jìn)行清洗和機(jī)械研磨,使樣品的一端形成針尖狀;S3、將獲得的針尖狀樣品采用離子減薄進(jìn)行進(jìn)一步研磨減薄至電子束可穿透的厚度,進(jìn)而獲得可在透射電子顯微鏡下進(jìn)行三維重構(gòu)數(shù)據(jù)采集的樣品。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)360°全角度電子顯微三維重構(gòu)數(shù)據(jù)采集的地質(zhì)樣品制備方法,不會(huì)因?yàn)闃悠繁旧淼男螤钕拗飘a(chǎn)生楔形數(shù)據(jù)缺失。
聲明:
“基于離子減薄的電子顯微三維重構(gòu)地質(zhì)樣品制樣方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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