權(quán)利要求書： 1.一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于，所述測(cè)厚儀包括：測(cè)量架，所述測(cè)量架具有至少兩個(gè)相對(duì)方向開(kāi)放的測(cè)量腔，用于可活動(dòng)的放入被測(cè)物體；

第一激光器，所述第一激光器設(shè)置在測(cè)量架上且位于被測(cè)物體上方，用于測(cè)量被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離；

第二激光器，所述第二激光器設(shè)置在測(cè)量架上且位于被測(cè)物體下方，用于測(cè)量被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離；

第一滾軸，所述第一滾軸設(shè)置在測(cè)量架上且分布在第一激光器兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體的上端；

第二滾軸，所述第二滾軸可伸縮的設(shè)置在測(cè)量架上且分布在第二激光器兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體的下端。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于：所述測(cè)量架上設(shè)置有彈性件，第一滾軸連接在彈性件上，進(jìn)行形成相對(duì)測(cè)量架的可伸縮裝配。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于：第二滾軸連接在彈性件上，能夠進(jìn)行主動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)被測(cè)物體向前移動(dòng)，以及活動(dòng)定位被測(cè)物體的下端。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于：所述第一滾軸為無(wú)動(dòng)力滾軸，能夠跟隨被測(cè)物體移動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)以定位被測(cè)物體的上端。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于：第一滾軸、第二滾軸均至少設(shè)置有兩個(gè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，其特征在于：所述第二激光器位于所述第一激光器的正下方。

7.一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法，包括如權(quán)利要求1?6任一所述的測(cè)厚儀，其特征在于，包括如下步驟：S1、定位被測(cè)物體下端；將被測(cè)物體放入測(cè)量腔中，使其自由落到第一滾軸上，保持穩(wěn)定；

S2、定位被測(cè)物體上端；調(diào)整測(cè)量架，使第二滾軸逐漸靠近被測(cè)物體直至貼合在被測(cè)物體的上端，此時(shí)測(cè)量腔a的高度去掉第一激光器2、第二激光器3本身的高度，得到測(cè)量腔a的測(cè)量高度L1；

S3、測(cè)量前處理：打開(kāi)測(cè)量?jī)x，進(jìn)行測(cè)量前校準(zhǔn)和設(shè)置，并根據(jù)被測(cè)物體的尺寸和形狀，選擇合適的測(cè)量范圍和激光功率；

S4、測(cè)量數(shù)據(jù)：第一滾輪轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)被測(cè)物體向前移動(dòng)，第一激光器測(cè)量被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離，記為L(zhǎng)2；第二激光器同步測(cè)量被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離，記為L(zhǎng)3；將測(cè)量腔的高度L1去掉被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離L2和被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離L3，得到被測(cè)物體的厚度，記為L(zhǎng)；多次測(cè)量，記錄測(cè)量數(shù)據(jù)；

S5、數(shù)據(jù)處理：測(cè)量完成后，對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行取平均值處理；以及繪制測(cè)量數(shù)據(jù)線條予以展示，觀察線條波動(dòng)以分析被測(cè)物體的平整度；

S6、測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉測(cè)量?jī)x器，注意清潔和保養(yǎng)。

8.一種服務(wù)器，其特征在于，包括：

處理器；

用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；

其中，所述處理器被配置為執(zhí)行所述指令，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求7所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的服務(wù)器，其特征在于，所述處理器采用高斯濾波對(duì)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析前平滑預(yù)處理。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，當(dāng)所述存儲(chǔ)介質(zhì)中的指令由服務(wù)器的處理器執(zhí)行時(shí)，使得服務(wù)器能夠執(zhí)行如權(quán)利要求7所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法。

說(shuō)明書： 一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀及其測(cè)厚方法技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本發(fā)明涉及測(cè)厚儀測(cè)厚技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀及其測(cè)厚方法。背景技術(shù)[0002] 在軋鋼行業(yè)的項(xiàng)目應(yīng)用中，一般使用射線測(cè)厚儀測(cè)量金屬板材、鋼卷等產(chǎn)品的厚度?，F(xiàn)有技術(shù)中測(cè)厚儀的使用種類相對(duì)較多，主要包括β射線測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀等。[0003] 但是這些測(cè)厚儀在實(shí)際使用過(guò)程中，存在以下缺點(diǎn)：[0004] 1、射線測(cè)厚儀是一種近距離測(cè)量方式，使用時(shí)需要人工將探頭放置在被測(cè)材料上，接觸測(cè)量容易產(chǎn)生接觸損傷；并且射線測(cè)厚儀需要使用放射性同位素，而放射性同位素會(huì)產(chǎn)生放射性廢料，因此在使用過(guò)程中容易存在輻射安全和環(huán)保處理問(wèn)題；[0005] 2、現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)于被測(cè)物體無(wú)定位結(jié)構(gòu)，測(cè)厚過(guò)程中被測(cè)物體容易晃動(dòng)、擺動(dòng)、甚至掉落，影響測(cè)量的可靠性。發(fā)明內(nèi)容[0006] 鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀及其測(cè)厚方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中采用射線測(cè)厚儀測(cè)量的方式存在接觸測(cè)量損傷和安全環(huán)保問(wèn)題，以及現(xiàn)有技術(shù)中被測(cè)物體無(wú)定位結(jié)構(gòu)，影響測(cè)量的可靠性的問(wèn)題。[0007] 為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，所述測(cè)厚儀包括：[0008] 測(cè)量架，所述測(cè)量架具有至少兩個(gè)相對(duì)方向開(kāi)放的測(cè)量腔，用于可活動(dòng)的放入被測(cè)物體；[0009] 第一激光器，所述第一激光器設(shè)置在測(cè)量架上且位于被測(cè)物體上方，用于測(cè)量被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離；[0010] 第二激光器，所述第二激光器設(shè)置在測(cè)量架上且位于被測(cè)物體下方，用于測(cè)量被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離；[0011] 第一滾軸，所述第一滾軸設(shè)置在測(cè)量架上且分布在第一激光器兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體的上端；[0012] 第二滾軸，所述第二滾軸可伸縮的設(shè)置在測(cè)量架上且分布在第二激光器兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體的下端。[0013] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述測(cè)量架上設(shè)置有彈性件，第一滾軸連接在彈性件上，進(jìn)行形成相對(duì)測(cè)量架的可伸縮裝配。[0014] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，第二滾軸連接在彈性件上，能夠進(jìn)行主動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)被測(cè)物體向前移動(dòng)，以及活動(dòng)定位被測(cè)物體的下端。[0015] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述第一滾軸為無(wú)動(dòng)力滾軸，能夠跟隨被測(cè)物體移動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)以定位被測(cè)物體的上端。[0016] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，第一滾軸、第二滾軸均至少設(shè)置有兩個(gè)。[0017] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述第二激光器位于所述第一激光器的正下方。[0018] 本發(fā)明提供一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法，包括所述的測(cè)厚儀，包括如下步驟：[0019] S1、定位被測(cè)物體下端；將被測(cè)物體放入測(cè)量腔中，使其自由落到第一滾軸上，保持穩(wěn)定；[0020] S2、定位被測(cè)物體上端；調(diào)整測(cè)量架，使第二滾軸逐漸靠近被測(cè)物體直至貼合在被測(cè)物體的上端，此時(shí)測(cè)量腔a的高度去掉第一激光器2、第二激光器3本身的高度，得到測(cè)量腔a的測(cè)量高度L1；[0021] S3、測(cè)量前處理：打開(kāi)測(cè)量?jī)x，進(jìn)行測(cè)量前校準(zhǔn)和設(shè)置，并根據(jù)被測(cè)物體的尺寸和形狀，選擇合適的測(cè)量范圍和激光功率；[0022] S4、測(cè)量數(shù)據(jù)：第一滾輪轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)被測(cè)物體向前移動(dòng)，第一激光器測(cè)量被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離，記為L(zhǎng)2；第二激光器同步測(cè)量被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離，記為L(zhǎng)3；將測(cè)量腔的高度L1去掉被測(cè)物體上端與測(cè)量架之間的距離L2和被測(cè)物體下端與測(cè)量架之間的距離L3，得到被測(cè)物體的厚度，記為L(zhǎng)；多次測(cè)量，記錄測(cè)量數(shù)據(jù)；[0023] S5、數(shù)據(jù)處理：測(cè)量完成后，對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行取平均值處理；以及繪制測(cè)量數(shù)據(jù)線條予以展示，觀察線條波動(dòng)以分析被測(cè)物體的平整度；[0024] S6、測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉測(cè)量?jī)x器，注意清潔和保養(yǎng)。[0025] 本發(fā)明提供一種服務(wù)器，包括：[0026] 處理器；[0027] 用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；[0028] 其中，所述處理器被配置為執(zhí)行所述指令，以實(shí)現(xiàn)上述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法。[0029] 于本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述處理器采用高斯濾波對(duì)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析前平滑預(yù)處理。[0030] 本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，當(dāng)所述存儲(chǔ)介質(zhì)中的指令由服務(wù)器的處理器執(zhí)行時(shí)，使得服務(wù)器能夠執(zhí)行如權(quán)利要求7所述的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法。[0031] 如上所述，本發(fā)明的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀及其測(cè)厚方法，具有以下有益效果：[0032] 1、本發(fā)明采用兩個(gè)激光器，同時(shí)照射被測(cè)物體相對(duì)側(cè)的表面，并通過(guò)測(cè)量?jī)蓚€(gè)激光光束之間的距離差來(lái)獲得被測(cè)物體厚度的儀器，相較于現(xiàn)有的射線測(cè)量方法，激光測(cè)厚是一種無(wú)損的可遠(yuǎn)離測(cè)量的方法，不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成損傷，從而保證了被測(cè)物體的完整性和安全性；[0033] 2、通過(guò)設(shè)置配合應(yīng)用的第一滾軸和第二滾軸，能夠?qū)Ρ粶y(cè)物體的上下端分別定位，避免被測(cè)物體在測(cè)量過(guò)程中晃動(dòng)、擺動(dòng)、甚至掉落，從而提高測(cè)量的可靠性；并且，第二滾軸還能夠主動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)被測(cè)物體移動(dòng)以實(shí)現(xiàn)雙激光的持續(xù)測(cè)量，提高測(cè)量數(shù)據(jù)的精確度；[0034] 3、通過(guò)設(shè)置彈性件，第一滾軸通過(guò)彈性件能夠形成相對(duì)測(cè)量架的可伸縮裝配，當(dāng)被測(cè)物體存在表面凹凸時(shí)，第一滾軸能夠隨被測(cè)物體表面的凹凸伸縮，保證被測(cè)物體順利通過(guò)的同時(shí)又能夠始終貼合在被測(cè)物體上端，保證被測(cè)物體持續(xù)定位的可靠性；[0035] 4、本發(fā)明通過(guò)設(shè)置雙激光器以及配合雙激光器應(yīng)用的第一滾軸、第二滾軸，雙激光器能夠無(wú)損的可遠(yuǎn)離測(cè)量被測(cè)物體，保證了被測(cè)物體的完整性和測(cè)量的安全性；第一滾軸、第二滾軸能夠可移動(dòng)的定位被測(cè)物體，實(shí)現(xiàn)雙激光器對(duì)于被測(cè)物體的持續(xù)性測(cè)量，整個(gè)測(cè)量過(guò)程人工干預(yù)極少，提高測(cè)量的精確度；并且能夠避免工作人員接觸高溫、高壓等危險(xiǎn)，提高測(cè)量的安全性；整體設(shè)計(jì)合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，具有精度高、穩(wěn)定性好、適用范圍廣、可靠性高、自動(dòng)化程度高、維護(hù)成本低等優(yōu)點(diǎn)，可以滿足軋鋼等行業(yè)對(duì)測(cè)量精度、效率和安全性的使用要求。附圖說(shuō)明[0036] 圖1顯示為本發(fā)明公開(kāi)的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀的結(jié)構(gòu)示意圖。[0037] 圖2顯示為本發(fā)明公開(kāi)的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法的測(cè)量方案示意圖。[0038] 圖3顯示為實(shí)施例2公開(kāi)的多次測(cè)量得到被測(cè)物體的厚度變化曲線圖。[0039] 元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明[0040] 測(cè)量架1；底座11；頂座12；第一激光器2；第二激光器3；被測(cè)物體4；第一滾軸5；第二滾軸6；彈性件7；測(cè)量腔a。具體實(shí)施方式[0041] 以下由特定的具體實(shí)施例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，熟悉此技術(shù)的人士可由本說(shuō)明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)及功效。[0042] 請(qǐng)參閱圖1至圖3。須知，本說(shuō)明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說(shuō)明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本發(fā)明可實(shí)施的限定條件，故不具技術(shù)上的實(shí)質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本發(fā)明所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下，均應(yīng)仍落在本發(fā)明所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時(shí)，本說(shuō)明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語(yǔ)，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本發(fā)明可實(shí)施的范圍，其相對(duì)關(guān)系的改變或調(diào)整，在無(wú)實(shí)質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本發(fā)明可實(shí)施的范疇。[0043] 實(shí)施例1[0044] 請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明提供一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚儀，所述測(cè)厚儀包括測(cè)量架1、第一激光器2、第二激光器3，所述測(cè)量架1具有至少兩個(gè)相對(duì)方向開(kāi)放的測(cè)量腔a，用于可活動(dòng)的放入被測(cè)物體4。[0045] 所述第一激光器2設(shè)置在測(cè)量架1上且位于被測(cè)物體4上方，用于測(cè)量被測(cè)物體4上端與測(cè)量架1之間的距離；所述第二激光器3設(shè)置在測(cè)量架1上且位于被測(cè)物體4下方，用于測(cè)量被測(cè)物體4下端與測(cè)量架1之間的距離；所述第二激光器3位于所述第一激光器2的正下方，能夠測(cè)量被測(cè)物體4同一位置相對(duì)側(cè)的表面，提高測(cè)量效果；本發(fā)明采用兩個(gè)激光器，同時(shí)照射被測(cè)物體4相對(duì)側(cè)的表面，并通過(guò)測(cè)量?jī)蓚€(gè)激光光束之間的距離差來(lái)獲得被測(cè)物體4厚度的儀器，相較于現(xiàn)有的射線測(cè)量方法，激光測(cè)厚是一種無(wú)損的可遠(yuǎn)離測(cè)量的方法，不會(huì)對(duì)被測(cè)物體4造成損傷，從而保證了被測(cè)物體4的完整性和安全性。[0046] 所述測(cè)厚儀還包括第一滾軸5、第二滾軸6，所述第一滾軸5設(shè)置在測(cè)量架1上且分布在第一激光器2兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體4的上端；所述第二滾軸6設(shè)置在測(cè)量架1上且分布在第二激光器3兩側(cè)，用于可滾動(dòng)的抵觸被測(cè)物體4的上端；通過(guò)設(shè)置配合應(yīng)用的第一滾軸5和第二滾軸6，能夠?qū)Ρ粶y(cè)物體4的上下端分別定位，避免被測(cè)物體4在測(cè)量過(guò)程中晃動(dòng)、擺動(dòng)、甚至掉落，從而提高測(cè)量的可靠性；所述第二滾軸6為動(dòng)力滾軸，能夠進(jìn)行主動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)被測(cè)物體4向前移動(dòng)以實(shí)現(xiàn)雙激光的持續(xù)測(cè)量，提高測(cè)量數(shù)據(jù)的精確度；第二滾軸6帶動(dòng)被測(cè)物體4移動(dòng)的同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)于被測(cè)物體4下端的活動(dòng)定位；所述第一滾軸5為無(wú)動(dòng)力滾軸，能夠跟隨被測(cè)物體4移動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)以定位被測(cè)物體4的上端；所述第一滾軸5、第二滾軸6均至少設(shè)置有兩個(gè)，本實(shí)施例中，第一滾軸5設(shè)置有兩個(gè)，第二滾軸6設(shè)置有兩個(gè)，多個(gè)第一滾軸5、第二滾軸6能夠提高對(duì)于被測(cè)物體4的定位效果；并且，所述測(cè)量架1上設(shè)置有彈性件7，包括彈性膜片、波紋管、彈簧管等，本實(shí)施例采用的彈性件7為彈簧管；第一滾軸

5通過(guò)彈性件7能夠形成相對(duì)測(cè)量架1的可伸縮裝配，當(dāng)被測(cè)物體4存在表面凹凸時(shí)，第一滾軸5能夠隨被測(cè)物體4表面的凹凸伸縮，保證被測(cè)物體4順利通過(guò)的同時(shí)又能夠始終貼合在被測(cè)物體4上端，保證被測(cè)物體4持續(xù)定位的可靠性。

[0047] 所述測(cè)量架1包括底座11和頂座12，底座11是固定式的，頂座12是可活動(dòng)的，具體的，頂座12連接在升降設(shè)備上，譬如液壓設(shè)備、氣缸設(shè)備等，通過(guò)升降設(shè)備驅(qū)動(dòng)頂座12相對(duì)底座11活動(dòng)實(shí)現(xiàn)測(cè)量架1的調(diào)整，以便應(yīng)用。[0048] 實(shí)施例2[0049] 請(qǐng)參閱圖2，基于上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例提供一種基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法，包括所述的測(cè)厚儀，包括如下步驟：[0050] S1、定位被測(cè)物體4下端；將被測(cè)物體4放入測(cè)量腔a中，使其自由落到第一滾軸5上，保持穩(wěn)定；[0051] S2、定位被測(cè)物體4上端；調(diào)整測(cè)量架1，使第二滾軸6逐漸靠近被測(cè)物體4直至貼合在被測(cè)物體4的上端，此時(shí)測(cè)量腔a的高度去掉第一激光器2、第二激光器3本身的高度，得到測(cè)量腔a的測(cè)量高度L1；[0052] S3、測(cè)量前處理：打開(kāi)測(cè)量?jī)x，進(jìn)行測(cè)量前校準(zhǔn)和設(shè)置，并根據(jù)被測(cè)物體4的尺寸和形狀，選擇合適的測(cè)量范圍和激光功率；一般來(lái)說(shuō)，測(cè)量范圍越大，精度就越低，因此需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇；[0053] S4、測(cè)量數(shù)據(jù)：第一滾軸5轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)被測(cè)物體4向前移動(dòng)，第一激光器2測(cè)量被測(cè)物體4上端與測(cè)量架1之間的距離，記為L(zhǎng)2；第二激光器3同步測(cè)量被測(cè)物體4下端與測(cè)量架1之間的距離，記為L(zhǎng)3；將測(cè)量腔a的測(cè)量高度L1去掉被測(cè)物體4上端與測(cè)量架1之間的距離L2和被測(cè)物體4下端與測(cè)量架1之間的距離L3，得到被測(cè)物體4的厚度，記為L(zhǎng)；多次測(cè)量，記錄測(cè)量數(shù)據(jù)；請(qǐng)參閱表1；[0054] 表1為測(cè)厚儀多次測(cè)量的記錄數(shù)據(jù)[0055][0056] 表1[0057] 由上表可知，被測(cè)物體4的厚度L的10次測(cè)量經(jīng)計(jì)算得到的數(shù)據(jù)分別為5mm、4.8mm、4.7mm、4.9mm、5.2mm、5.1mm、5.1mm、4.8mm、5mm、5.3mm，取平均值為4.99mm，則被測(cè)物體4L的厚度即為4.99mm；

[0058] S5、數(shù)據(jù)處理：測(cè)量完成后，對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行取平均值處理；由于本方法是應(yīng)用于軋鋼行業(yè)的項(xiàng)目中，而在旋轉(zhuǎn)的軋輥間改變鋼錠、鋼坯形狀的壓力加工過(guò)程叫軋鋼，因此，軋鋼項(xiàng)目包括對(duì)于鋼錠、鋼坯的粗加工，鋼板存在不均勻的問(wèn)題，本方法采用多次測(cè)量取平均值的方式能夠利用被測(cè)物體4的整體特征，從而得到精確度最高的被測(cè)物體4的厚度數(shù)據(jù)；通過(guò)繪制測(cè)量數(shù)據(jù)線條予以展示，觀察線條波動(dòng)以分析被測(cè)物體4的平整度，進(jìn)而更好地了解被測(cè)物體4的特性和性能，利于后續(xù)調(diào)整加工方案。[0059] 請(qǐng)參閱圖3，由曲線圖可知，被測(cè)物體4的厚度波動(dòng)在?0.3mm?0.2mm，根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)參閱表2；[0060] 表2為軋制薄鋼板厚度允許偏差[0061][0062] 表2[0063] 由上表可知，本實(shí)施例得到的被測(cè)物體4的厚度L波動(dòng)在允許范圍內(nèi)，因此判斷軋鋼產(chǎn)品合格，可直接用于后續(xù)加工使用；[0064] S6、測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉測(cè)量?jī)x器，注意清潔和保養(yǎng)。[0065] 實(shí)施例3[0066] 本實(shí)施例提供一種服務(wù)器，包括處理器和用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；所述處理器采用高斯濾波對(duì)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析前平滑預(yù)處理，高斯濾波是一種線性平滑濾波，適用于消除高斯噪聲，廣泛應(yīng)用于圖像處理的減噪過(guò)程。通俗的講，高斯濾波就是對(duì)整幅圖像進(jìn)行加權(quán)平均的過(guò)程，每一個(gè)像素點(diǎn)的值，都由其本身和鄰域內(nèi)的其他像素值經(jīng)過(guò)加權(quán)平均后得到。高斯濾波的具體操作是：用一個(gè)模板掃描圖像中的每一個(gè)像素，用模板確定的鄰域內(nèi)像素的加權(quán)平均灰度值去替代模板中心像素點(diǎn)的值；用于后期應(yīng)用的數(shù)字圖像，其噪聲是最大的問(wèn)題，因?yàn)檎`差會(huì)累計(jì)傳遞等原因，大多圖像處理教材會(huì)在很早的時(shí)候介紹Gauss濾波器，用于得到信噪比SNR較高的圖像(反應(yīng)真實(shí)信號(hào))。高斯平滑濾波器對(duì)于抑制服從正態(tài)分布的噪聲非常有效。[0067] 所述處理器被配置為執(zhí)行所述指令，以實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例中的基于雙激光器的帶有滾軸定位的測(cè)厚方法的步驟，具體實(shí)現(xiàn)方式和技術(shù)效果類似，這里不再贅述。[0068] 實(shí)施例4[0069] 本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括：U盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(ROM，Read?OnlyMemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM，RandomAccessMemory)、磁盤或者光盤等各種可以存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序的介質(zhì)，具體的，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)用于實(shí)現(xiàn)實(shí)施例3提供的一種服務(wù)器的控制方法的步驟，具體實(shí)現(xiàn)方式和技術(shù)效果類似，這里不再贅述。[0070] 實(shí)施例5[0071] 本實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如實(shí)施例3提供的一種服務(wù)器的控制方法的步驟，具體實(shí)現(xiàn)方式和技術(shù)效果類似，這里不再贅述。[0072] 綜上所述，本發(fā)明通過(guò)設(shè)置雙激光器以及配合雙激光器應(yīng)用的第一滾軸5、第二滾軸6，雙激光器能夠無(wú)損的可遠(yuǎn)離測(cè)量被測(cè)物體4，保證了被測(cè)物體4的完整性和測(cè)量的安全性；第一滾軸5、第二滾軸6能夠可移動(dòng)的定位被測(cè)物體4，實(shí)現(xiàn)雙激光器對(duì)于被測(cè)物體4的持續(xù)性測(cè)量，整個(gè)測(cè)量過(guò)程人工干預(yù)極少，提高測(cè)量的精確度；并且能夠避免工作人員接觸高溫、高壓等危險(xiǎn)，提高測(cè)量的安全性；整體設(shè)計(jì)合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，具有精度高、穩(wěn)定性好、適用范圍廣、可靠性高、自動(dòng)化程度高、維護(hù)成本低等優(yōu)點(diǎn)，可以滿足軋鋼等行業(yè)對(duì)測(cè)量精度、效率和安全性的使用要求。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。[0073] 上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。