權(quán)利要求書: 1.檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:讀數(shù)顯微鏡主體(1),用于檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕;
支撐機(jī)構(gòu)(2),與所述讀數(shù)顯微鏡主體(1)相連接,所述支撐機(jī)構(gòu)(2)包括底座(201),所述底座(201)上對(duì)稱開鑿有一對(duì)滑槽(202);
一對(duì)固定機(jī)構(gòu)(3),分別滑動(dòng)設(shè)于一對(duì)所述滑槽(202)內(nèi),所述固定機(jī)構(gòu)(3)包括按壓件(301),所述按壓件(301)內(nèi)開鑿有調(diào)節(jié)槽(302),所述調(diào)節(jié)槽(302)內(nèi)滑動(dòng)連接有固定柱(303),所述按壓件(301)與固定柱(303)之間連接有選擇性釋放機(jī)構(gòu),所述固定柱(303)上固定連接有磁鐵塊(304);
一對(duì)提示機(jī)構(gòu)(4),所述提示機(jī)構(gòu)(4)包括電源(401),所述磁鐵塊(304)的側(cè)壁上連接有金屬塊(402),所述底座(201)內(nèi)設(shè)有接觸片(403)和線路板(404),所述線路板(404)上安裝有多個(gè)均勻分布的提示燈(405),所述電源(401)與金屬塊(402)和線路板(404)電性連接,所述接觸片(403)與線路板(404)電性連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述底座(201)上設(shè)有容納槽(204),所述容納槽(204)與所述滑槽(202)相連通,所述容納槽(204)與所述磁鐵塊(304)對(duì)應(yīng)設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述容納槽(204)的側(cè)壁上開鑿有限位槽(205),所述金屬塊(402)和接觸片(403)均設(shè)于限位槽(205)內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述選擇性釋放機(jī)構(gòu)包括滑桿(305),所述滑桿(305)與所述固定柱(303)固定連接,所述滑桿(305)的外側(cè)套設(shè)有活動(dòng)釋放件(306),所述滑桿(305)遠(yuǎn)離固定柱(303)的一端固定連接有卡位件(307)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述固定柱(303)、活動(dòng)釋放件(306)和卡位件(307)的最大直徑相等。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述按壓件(301)的側(cè)壁上開鑿有一對(duì)限位腔(308),所述限位腔(308)與所述調(diào)節(jié)槽(302)相連通,所述限位腔(308)內(nèi)滑動(dòng)設(shè)有限位柱(309)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述限位柱(309)位于所述限位腔(308)內(nèi)的側(cè)壁上連接有限位環(huán)(310),所述限位環(huán)(310)與所述限位腔(308)側(cè)壁之間連接有增壓彈簧(311),所述增壓彈簧(311)設(shè)于限位柱(309)的外側(cè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述底座(201)上設(shè)有多個(gè)通氣腔(203),所述通氣腔(203)與所述限位腔(308)相連通。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述滑槽(202)內(nèi)設(shè)有彈性件(312),所述彈性件(312)與所述調(diào)節(jié)槽(302)對(duì)應(yīng)設(shè)置。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,其特征在于,所述磁鐵塊(304)上連接有氣囊(313),所述氣囊(313)內(nèi)設(shè)有多個(gè)均勻分布的擠壓柱(314)。
說明書: 檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本發(fā)明屬于檢測(cè)裝置技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置。背景技術(shù)[0002] 布氏硬度計(jì)是測(cè)量金屬布氏硬度的精密計(jì)量?jī)x器,其主要用于鑄鐵、鋼材、
有色金屬及軟合金等材料的硬度測(cè)定,布氏硬度試驗(yàn)是所有硬度試驗(yàn)中壓痕最大的一種試驗(yàn)法,
它能反映出材料的綜合性能,不受試樣組織顯微偏析及成分不均勻的影響,所以它是一種
精度較高的硬度試驗(yàn)法。
[0003] 布氏硬度計(jì)的工作原理是把一定直徑的鋼球,在一定試驗(yàn)力作用下,以一定的速度壓入試樣表面,經(jīng)規(guī)定的試驗(yàn)力保持時(shí)間后卸除試驗(yàn)力,以試樣壓痕球形表面積上的平
均壓力來表示金屬的布氏硬度值,以此來判斷試樣的各項(xiàng)性能。
[0004] 在針對(duì)試樣壓痕進(jìn)行檢測(cè)時(shí),需要用到壓痕檢測(cè)裝置,現(xiàn)有的壓痕檢測(cè)裝置一般為讀數(shù)顯微鏡,其在使用時(shí),為了保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,需要與壓痕的位置保持相對(duì)固定,但
現(xiàn)有的讀數(shù)顯微鏡一般都是直接手持固定于試樣表面,使用者手部細(xì)微的變化都會(huì)使讀數(shù)
顯微鏡與壓痕的位置發(fā)生相對(duì)變化,進(jìn)而影響讀數(shù)顯微鏡對(duì)于壓痕直徑的正常測(cè)量結(jié)果,
容易造成測(cè)量上的誤差,從而影響使用者對(duì)于試樣綜合性能的判斷。
[0005] 因此,針對(duì)上述技術(shù)問題,有必要提供檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置。發(fā)明內(nèi)容[0006] 本發(fā)明的目的在于提供檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,以解決上述的讀數(shù)顯微鏡因不能完全與試樣固定而造成測(cè)量誤差的問題。
[0007] 為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明一實(shí)施例提供的技術(shù)方案如下:檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,包括讀數(shù)顯微鏡主體、支撐機(jī)構(gòu)、一對(duì)固定
機(jī)構(gòu)、一對(duì)提示機(jī)構(gòu);
所述讀數(shù)顯微鏡主體用于檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕;
所述支撐機(jī)構(gòu)與所述讀數(shù)顯微鏡主體相連接,所述支撐機(jī)構(gòu)包括底座,所述底座
上對(duì)稱開鑿有一對(duì)滑槽;
一對(duì)所述固定機(jī)構(gòu)分別滑動(dòng)設(shè)于一對(duì)所述滑槽內(nèi),所述固定機(jī)構(gòu)包括按壓件,所
述按壓件內(nèi)開鑿有調(diào)節(jié)槽,所述調(diào)節(jié)槽內(nèi)滑動(dòng)連接有固定柱,所述按壓件與固定柱之間連
接有選擇性釋放機(jī)構(gòu),所述固定柱上固定連接有磁鐵塊;
所述提示機(jī)構(gòu)包括電源,所述磁鐵塊的側(cè)壁上連接有金屬塊,所述底座內(nèi)設(shè)有接
觸片和線路板,所述線路板上安裝有多個(gè)均勻分布的提示燈,所述電源與金屬塊和線路板
電性連接,所述接觸片與線路板電性連接。
[0008] 進(jìn)一步地,所述底座上設(shè)有容納槽,用于磁鐵塊的滑動(dòng),為磁鐵塊的滑動(dòng)預(yù)留一定的空間,所述容納槽與所述滑槽相連通,所述容納槽與所述磁鐵塊對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0009] 進(jìn)一步地,所述容納槽的側(cè)壁上開鑿有限位槽,用于容納金屬塊和接觸片,也可以利用金屬塊對(duì)磁鐵塊的滑動(dòng)起到一定的限位作用,避免磁鐵塊完全滑出容納槽,所述金屬
塊和接觸片均設(shè)于限位槽內(nèi)。
[0010] 進(jìn)一步地,所述選擇性釋放機(jī)構(gòu)包括滑桿,所述滑桿與所述固定柱固定連接,用于安裝活動(dòng)釋放件,利用活動(dòng)釋放件在滑桿上的滑動(dòng),來實(shí)現(xiàn)固定柱的選擇性釋放,保證對(duì)于
支撐機(jī)構(gòu)的固定效果;
所述滑桿的外側(cè)套設(shè)有活動(dòng)釋放件,用于選擇性釋放固定柱;
所述滑桿遠(yuǎn)離固定柱的一端固定連接有卡位件,一方面可以限位活動(dòng)釋放件,避
免活動(dòng)釋放件完全滑出滑桿,另一方面可以方便限位柱的卡合,實(shí)現(xiàn)固定柱與試樣之間的
分離,以便使用者能夠輕松的移動(dòng)讀數(shù)顯微鏡主體和支撐機(jī)構(gòu)。
[0011] 進(jìn)一步地,所述固定柱、活動(dòng)釋放件和卡位件的最大直徑相等,便于限位柱的卡合與釋放,即當(dāng)使用者按壓一次按壓件時(shí),限位柱先收縮,然后可以卡合在卡位件上,進(jìn)而可
以實(shí)現(xiàn)固定柱和磁鐵塊與試樣的脫離,便于使用者輕松移動(dòng)讀數(shù)顯微鏡主體和支撐機(jī)構(gòu);
當(dāng)使用者再次下壓按壓件時(shí),限位柱收縮并卡合到活動(dòng)釋放件上,當(dāng)使用者松開
按壓件時(shí),按壓件在彈性件的彈性作用下上升,并帶動(dòng)活動(dòng)釋放件上升,當(dāng)活動(dòng)釋放件與卡
位件接觸時(shí),限位柱收縮脫離活動(dòng)釋放件和卡位件的卡合,此時(shí)固定柱與限位柱分離,固定
柱上的磁鐵塊吸引試樣,完成支撐機(jī)構(gòu)整體的固定,使得讀數(shù)顯微鏡主體在檢測(cè)時(shí)固定牢
固,避免讀數(shù)顯微鏡主體和試樣之間發(fā)生相對(duì)位移,保證讀數(shù)顯微鏡主體的檢測(cè)準(zhǔn)確性。
[0012] 進(jìn)一步地,所述按壓件的側(cè)壁上開鑿有一對(duì)限位腔,用于限位柱的滑動(dòng),所述限位腔與所述調(diào)節(jié)槽相連通;
所述限位腔內(nèi)滑動(dòng)設(shè)有限位柱,用于實(shí)現(xiàn)固定柱的卡合與釋放,便于使用者選擇
式的固定或釋放支撐機(jī)構(gòu),便于使用者更好的檢測(cè)試樣壓痕。
[0013] 進(jìn)一步地,所述限位柱位于所述限位腔內(nèi)的側(cè)壁上連接有限位環(huán),用于起到限位的作用,避免限位柱完全滑出限位腔;
所述限位環(huán)與所述限位腔側(cè)壁之間連接有增壓彈簧,所述增壓彈簧設(shè)于限位柱的
外側(cè),用于增加限位柱在自然狀態(tài)下的卡合效果,即限位柱的一端處于調(diào)節(jié)槽內(nèi)。
[0014] 進(jìn)一步地,所述底座上設(shè)有多個(gè)通氣腔,所述通氣腔與所述限位腔相連通,用于釋放限位腔內(nèi)的壓力,使得限位柱能夠更好的進(jìn)行滑動(dòng)。
[0015] 進(jìn)一步地,所述滑槽內(nèi)設(shè)有彈性件,所述彈性件與所述調(diào)節(jié)槽對(duì)應(yīng)設(shè)置,使得按壓件在不受壓力時(shí),可以實(shí)現(xiàn)自然回彈。
[0016] 進(jìn)一步地,所述磁鐵塊上連接有氣囊,用于增加磁鐵塊與試樣表面之間的接觸效果,所述氣囊內(nèi)設(shè)有多個(gè)均勻分布的擠壓柱,當(dāng)磁鐵塊吸引靠近試樣時(shí),磁鐵塊會(huì)擠壓氣囊
內(nèi)的擠壓柱,進(jìn)而可以使得氣囊的表面產(chǎn)生凹凸感,從而可以增加氣囊表面的粗糙程度,增
加支撐機(jī)構(gòu)與試樣固定時(shí)的防滑效果。
[0017] 與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):本發(fā)明通過相應(yīng)機(jī)構(gòu)的設(shè)置,便于使用者選擇式的固定與釋放讀數(shù)顯微鏡,使用
者無需進(jìn)行手持固定操作,大幅降低使用者手部細(xì)微變化對(duì)于讀數(shù)顯微鏡與壓痕位置造成
的影響,進(jìn)而可以大大降低讀數(shù)顯微鏡讀數(shù)時(shí)產(chǎn)生的誤差,保證使用者讀數(shù)的準(zhǔn)確性,從而
可以保證使用者對(duì)于試樣綜合性能準(zhǔn)確無誤的判斷。
附圖說明[0018] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本
發(fā)明中記載的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,
還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0019] 圖1為本發(fā)明一實(shí)施例中檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置的固定狀態(tài)部分剖面圖;
圖2為圖1中A處結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為圖1中B處結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為圖1中C處結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為本發(fā)明一實(shí)施例中檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置的脫離狀態(tài)部分結(jié)
構(gòu)剖面圖;
圖6為圖5中D處結(jié)構(gòu)示意圖;
圖7為圖5中E處結(jié)構(gòu)示意圖;
圖8為本發(fā)明一實(shí)施例中檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置的立體圖;
圖9為本發(fā)明一實(shí)施例中檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置的另一角度立體
圖。
[0020] 圖中:1.讀數(shù)顯微鏡主體、2.支撐機(jī)構(gòu)、201.底座、202.滑槽、203.通氣腔、204.容納槽、205.限位槽、3.固定機(jī)構(gòu)、301.按壓件、302.調(diào)節(jié)槽、303.固定柱、304.磁鐵塊、305.滑
桿、306.活動(dòng)釋放件、307.卡位件、308.限位腔、309.限位柱、310.限位環(huán)、311.增壓彈簧、
312.彈性件、313.氣囊、314.擠壓柱、4.提示機(jī)構(gòu)、401.電源、402.金屬塊、403.接觸片、404.
線路板、405.提示燈。
具體實(shí)施方式[0021] 以下將結(jié)合附圖所示的各實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。但該等實(shí)施方式并不限制本發(fā)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)該等實(shí)施方式所做出的結(jié)構(gòu)、方法或功能上的變
換均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0022] 本發(fā)明公開了檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置,參圖1?圖9所示,包括讀數(shù)顯微鏡主體1、支撐機(jī)構(gòu)2、一對(duì)固定機(jī)構(gòu)3、一對(duì)提示機(jī)構(gòu)4。
[0023] 參圖1所示,讀數(shù)顯微鏡主體1用于檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕。[0024] 其中,讀數(shù)顯微鏡主體1套設(shè)于底座201內(nèi),且讀數(shù)顯微鏡主體1與底座201之間通過至少2個(gè)螺釘進(jìn)行連接,保證讀數(shù)顯微鏡主體1與底座201之間的連接穩(wěn)定性。
[0025] 參圖1?圖2所示,支撐機(jī)構(gòu)2與讀數(shù)顯微鏡主體1相連接,支撐機(jī)構(gòu)2用于起到支撐讀數(shù)顯微鏡主體1的效果,支撐機(jī)構(gòu)2包括底座201,底座201的具體形狀參圖7所示,可以擴(kuò)
大讀數(shù)顯微鏡主體1與試樣之間的接觸面,保證讀數(shù)顯微鏡主體1在使用時(shí)的穩(wěn)定性,底座
201上對(duì)稱開鑿有一對(duì)滑槽202。
[0026] 參圖1?圖3所示,底座201上設(shè)有容納槽204,用于磁鐵塊304的滑動(dòng),為磁鐵塊304的滑動(dòng)預(yù)留一定的空間,同時(shí)當(dāng)磁鐵塊304與試樣分離時(shí),也可以收納磁鐵塊304,容納槽
204與滑槽202相連通,容納槽204與磁鐵塊304對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0027] 其中,容納槽204的側(cè)壁上開鑿有限位槽205,用于容納金屬塊402和接觸片403,也可以利用金屬塊402對(duì)磁鐵塊304的滑動(dòng)起到一定的限位作用,避免磁鐵塊304完全滑出容
納槽204,金屬塊402和接觸片403均設(shè)于限位槽205內(nèi)。
[0028] 具體地,金屬塊402與磁鐵塊304固定連接,保證金屬塊402與磁鐵塊304之間的連接牢固性。
[0029] 參圖1?圖7所示,一對(duì)固定機(jī)構(gòu)3分別滑動(dòng)設(shè)于一對(duì)滑槽202內(nèi),固定機(jī)構(gòu)3用于選擇性固定或者釋放支撐機(jī)構(gòu)2,固定機(jī)構(gòu)3包括按壓件301,便于使用者進(jìn)行按壓操作,按壓
件301內(nèi)開鑿有調(diào)節(jié)槽302,用于容納固定柱303,調(diào)節(jié)槽302內(nèi)滑動(dòng)連接有固定柱303,用于
連接滑桿305和磁鐵塊304,按壓件301與固定柱303之間連接有選擇性釋放機(jī)構(gòu),固定柱303
上固定連接有磁鐵塊304,用于吸引試樣。
[0030] 其中,當(dāng)磁鐵塊304靠近試樣時(shí),由于試樣為金屬材質(zhì),與磁鐵塊304之間具有磁性吸引作用,進(jìn)而可以使得磁鐵塊304與試樣表面牢牢接觸,保證讀數(shù)顯微鏡主體1在檢測(cè)時(shí)
的牢固性,避免因使用者手部細(xì)微的變化而造成的讀數(shù)顯微鏡主體1的滑動(dòng),從而可以保證
讀數(shù)顯微鏡主體1的檢測(cè)準(zhǔn)確性。
[0031] 參圖1?圖3所示,選擇性釋放機(jī)構(gòu)包括滑桿305,滑桿305與固定柱303固定連接,用于安裝活動(dòng)釋放件306,利用活動(dòng)釋放件306在滑桿305上的滑動(dòng),來實(shí)現(xiàn)固定柱303的選擇
性釋放,保證對(duì)于支撐機(jī)構(gòu)2的固定效果。
[0032] 優(yōu)選的,滑桿305的長(zhǎng)度小于調(diào)節(jié)槽302的深度,即當(dāng)滑桿305插入到調(diào)節(jié)槽302內(nèi)時(shí),避免滑桿305與調(diào)節(jié)槽302內(nèi)壁發(fā)生碰撞,保證按壓件301的安全使用。
[0033] 其中,滑桿305的外側(cè)套設(shè)有活動(dòng)釋放件306,用于選擇性釋放固定柱303,活動(dòng)釋放件306的具體形狀參圖2所示,活動(dòng)釋放件306的傾斜弧度與限位柱309的傾斜弧度相等,
可以保證按壓件301下壓時(shí),限位柱309能夠從活動(dòng)釋放件306的側(cè)壁上滑過,降低滑動(dòng)時(shí)的
阻礙。
[0034] 另外,滑桿305遠(yuǎn)離固定柱303的一端固定連接有卡位件307,一方面可以限位活動(dòng)釋放件306,避免活動(dòng)釋放件306完全滑出滑桿305,另一方面可以方便限位柱309的卡合,實(shí)
現(xiàn)固定柱303與試樣之間的分離,以便使用者能夠輕松的移動(dòng)讀數(shù)顯微鏡主體1和支撐機(jī)構(gòu)
2,圖2為限位柱309的脫離狀態(tài),即磁鐵塊304與試樣吸引,支撐機(jī)構(gòu)2固定,圖6為限位柱309
的卡合狀態(tài),即磁鐵塊304與試樣脫離,支撐機(jī)構(gòu)2可以移動(dòng)。
[0035] 具體地,固定柱303、活動(dòng)釋放件306和卡位件307的最大直徑相等,便于限位柱309的卡合與釋放,即當(dāng)使用者按壓一次按壓件301時(shí),限位柱309先收縮,然后可以卡合在卡位
件307上,進(jìn)而可以實(shí)現(xiàn)固定柱303和磁鐵塊304與試樣的脫離,便于使用者輕松移動(dòng)讀數(shù)顯
微鏡主體1和支撐機(jī)構(gòu)2,即圖6所示狀態(tài)。
[0036] 當(dāng)使用者再次下壓按壓件301時(shí),限位柱309收縮并卡合到活動(dòng)釋放件306上,當(dāng)使用者松開按壓件301時(shí),按壓件301在彈性件312的彈性作用下上升,并帶動(dòng)活動(dòng)釋放件306
上升,當(dāng)活動(dòng)釋放件306與卡位件307接觸時(shí),限位柱309收縮脫離活動(dòng)釋放件306和卡位件
307的卡合,此時(shí)固定柱303與限位柱309分離,固定柱303上的磁鐵塊304吸引試樣,完成支
撐機(jī)構(gòu)2整體的固定,使得讀數(shù)顯微鏡主體1在檢測(cè)時(shí)固定牢固,避免讀數(shù)顯微鏡主體1和試
樣之間發(fā)生相對(duì)位移,保證讀數(shù)顯微鏡主體1的檢測(cè)準(zhǔn)確性,即圖2所示狀態(tài)。
[0037] 參圖5?圖7所示,按壓件301的側(cè)壁上開鑿有一對(duì)限位腔308,用于限位柱309的滑動(dòng),限位腔308與調(diào)節(jié)槽302相連通。
[0038] 其中,限位腔308內(nèi)滑動(dòng)設(shè)有限位柱309,用于實(shí)現(xiàn)固定柱303的卡合與釋放,便于使用者選擇式的固定或釋放支撐機(jī)構(gòu)2,便于使用者更好的檢測(cè)試樣壓痕。
[0039] 優(yōu)選的,限位柱309為金屬材質(zhì),增加限位柱309在使用時(shí)的牢固性,避免限位柱309的彎折,從而可以保證限位柱309的使用壽命。
[0040] 另外,限位柱309位于限位腔308內(nèi)的側(cè)壁上連接有限位環(huán)310,用于起到限位限位柱309滑動(dòng)的作用,避免限位柱309完全滑出限位腔308。
[0041] 具體地,限位環(huán)310與限位腔308側(cè)壁之間連接有增壓彈簧311,增壓彈簧311設(shè)于限位柱309的外側(cè),用于增加限位柱309在自然狀態(tài)下的卡合效果,即限位柱309的一端處于
調(diào)節(jié)槽302內(nèi),圖2即為限位柱309自然狀態(tài)。
[0042] 參圖6所示,底座201上設(shè)有多個(gè)通氣腔203,通氣腔203與限位腔308相連通,用于釋放限位腔308內(nèi)的壓力,使得限位柱309能夠更好的進(jìn)行滑動(dòng),大大降低限位柱309在滑動(dòng)
時(shí)的阻力,便于使用者按壓按壓件301。
[0043] 參圖5?圖6所示,滑槽202內(nèi)設(shè)有彈性件312,彈性件312與調(diào)節(jié)槽302對(duì)應(yīng)設(shè)置,使得按壓件301在不受壓力時(shí),可以實(shí)現(xiàn)自然回彈,圖2即為按壓件301的自然狀態(tài)。
[0044] 優(yōu)選的,彈性件312為海綿,海綿具有一定的彈性,且方便壓縮。[0045] 參圖7所示,磁鐵塊304上連接有氣囊313,用于增加磁鐵塊304與試樣表面之間的接觸效果,氣囊313內(nèi)設(shè)有多個(gè)均勻分布的擠壓柱314,當(dāng)磁鐵塊304吸引靠近試樣時(shí),磁鐵
塊304會(huì)擠壓氣囊313內(nèi)的擠壓柱314,進(jìn)而可以使得氣囊313的表面產(chǎn)生凹凸感,從而可以
增加氣囊313表面的粗糙程度,增加支撐機(jī)構(gòu)2與試樣固定時(shí)的防滑效果,避免支撐機(jī)構(gòu)2與
試樣發(fā)生相對(duì)滑動(dòng),保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。
[0046] 參圖1?圖7所示,提示機(jī)構(gòu)4包括電源401,用于提供電力作用,磁鐵塊304的側(cè)壁上連接有金屬塊402,可以起到限位磁鐵塊304滑動(dòng)的作用,同時(shí)也可以與接觸片403相接觸,
用于點(diǎn)亮提示燈405。
[0047] 優(yōu)選的,電源401為人體安全電壓范圍,具體地,電源401為24
鋰電池電源,避免出現(xiàn)人體觸電的風(fēng)險(xiǎn)。
[0048] 參圖2?圖4所示,底座201內(nèi)設(shè)有接觸片403和線路板404,接觸片403設(shè)于金屬塊402的下側(cè),即當(dāng)限位柱309脫離與卡位件307的卡合時(shí),金屬塊402與接觸片403相接觸,此
時(shí),電源401、金屬塊402、接觸片403和線路板404可以形成閉合回路,使得線路板404上的提
示燈405點(diǎn)亮,用于提示使用者,此時(shí)磁鐵塊304與試樣表面接觸,支撐機(jī)構(gòu)2已安裝牢固,當(dāng)
提示燈405未亮?xí)r,說明此時(shí)磁鐵塊304與試樣脫離接觸,使用者需要重新調(diào)節(jié)磁鐵塊304的
位置,以免檢測(cè)數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確。
[0049] 其中,線路板404上安裝有多個(gè)均勻分布的提示燈405,優(yōu)選的,提示燈405的數(shù)量為30個(gè),30個(gè)提示燈405呈圓周均勻分布于讀數(shù)顯微鏡主體1的內(nèi)壁上,一方面可以經(jīng)過警
示作用,另一方面可以照亮讀數(shù)顯微鏡主體1內(nèi)的壓痕,便于使用者進(jìn)行更好的觀察。
[0050] 另外,線路板404呈環(huán)形設(shè)置,即線路板404上安裝有15個(gè)提示燈405,當(dāng)一側(cè)的磁鐵塊304未與試樣接觸時(shí),一側(cè)15個(gè)提示燈405全部熄滅,可以大大提高警示的效果,便于使
用者觀察提示燈405的通斷情況,以便及時(shí)的排查。
[0051] 具體地,電源401與金屬塊402和線路板404電性連接,接觸片403與線路板404電性連接。
[0052] 具體使用時(shí),使用者先用布氏硬度計(jì)對(duì)試樣進(jìn)行壓痕操作,壓痕完成后,將讀數(shù)顯微鏡主體1和支撐機(jī)構(gòu)2放置于帶有壓痕的試樣表面,對(duì)準(zhǔn)壓痕的位置,使用者使勁下壓按
壓件301,限位柱309收縮并先卡合到卡位件307上,在按壓件301持續(xù)下降的過程中,限位柱
309與活動(dòng)釋放件306相接觸,并最終卡合到活動(dòng)釋放件306上,此時(shí),松開按壓件301時(shí),按
壓件301在彈性件312的彈性作用下上升,按壓件301上升過程中,限位柱309帶動(dòng)活動(dòng)釋放
件306在滑桿305上滑動(dòng)上升;
當(dāng)活動(dòng)釋放件306與卡位件307接觸時(shí),限位柱309沿著活動(dòng)釋放件306的傾斜面收
縮,直至限位柱309脫離與活動(dòng)釋放件306和卡位件307的卡合,此時(shí)固定柱303與限位柱309
分離,即固定柱303上的磁鐵塊304在重力的作用下靠近并吸引試樣,即為圖2所示的狀態(tài),
從而可以實(shí)現(xiàn)讀數(shù)顯微鏡主體1和支撐機(jī)構(gòu)2的固定,使得讀數(shù)顯微鏡主體1在檢測(cè)時(shí)位置
固定,避免讀數(shù)顯微鏡主體1和試樣之間發(fā)生相對(duì)位移,從而可以保證讀數(shù)顯微鏡主體1檢
測(cè)的準(zhǔn)確性;
當(dāng)磁鐵塊304和試樣表面吸引接觸時(shí),磁鐵塊304會(huì)擠壓氣囊313內(nèi)的擠壓柱314,
可以增加氣囊313表面的凹凸感,進(jìn)而可以增加氣囊313表面的粗糙程度,增加磁鐵塊304與
試樣表面之間防滑效果;
同時(shí),當(dāng)磁鐵塊304與試樣表面吸引接觸時(shí),磁鐵塊304側(cè)壁上的金屬塊402與限位
槽205內(nèi)的接觸片403相接觸,使得電源401、金屬塊402、接觸片403和線路板404可以形成閉
合回路,即線路板404上的多個(gè)提示燈405會(huì)被點(diǎn)亮,使用者可以觀察提示燈405的點(diǎn)亮情
況,來判斷磁鐵塊304是否與試樣表面接觸牢固,若提示燈405不亮,則說明此時(shí)磁鐵塊304
未與試樣表面相接觸,使用者需要重新調(diào)整磁鐵塊304的位置,直到提示燈405處于點(diǎn)亮狀
態(tài),使用者也可以利用點(diǎn)亮的提示燈405觀察壓痕,以便使用者進(jìn)行更好的觀察,提高檢測(cè)
的準(zhǔn)確性;
當(dāng)使用者需要移動(dòng)讀數(shù)顯微鏡主體1時(shí),再次按壓按壓件301,使得限位柱309收縮
并與卡位件307卡合,此時(shí),按壓件301和固定柱303連成一個(gè)整體,按壓件301在彈性件312
彈性的作用下,恢復(fù)原狀,即為圖6所示的狀態(tài),此時(shí),磁鐵塊304與試樣脫離,電源401、金屬
塊402、線路板404和線路板404處于斷路狀態(tài),提示燈405熄滅,使用者可以很方面的移動(dòng)讀
數(shù)顯微鏡主體1和支撐機(jī)構(gòu)2,對(duì)讀數(shù)顯微鏡主體1的位置進(jìn)行調(diào)整,便于使用者更好的進(jìn)行
檢測(cè)。
[0053] 由以上技術(shù)方案可以看出,本發(fā)明具有以下有益效果:本發(fā)明通過相應(yīng)機(jī)構(gòu)的設(shè)置,便于使用者選擇式的固定與釋放讀數(shù)顯微鏡,使用
者無需進(jìn)行手持固定操作,大幅降低使用者手部細(xì)微變化對(duì)于讀數(shù)顯微鏡與壓痕位置造成
的影響,進(jìn)而可以大大降低讀數(shù)顯微鏡讀數(shù)時(shí)產(chǎn)生的誤差,保證使用者讀數(shù)的準(zhǔn)確性,從而
可以保證使用者對(duì)于試樣綜合性能準(zhǔn)確無誤的判斷。
[0054] 對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,顯然本發(fā)明不限于上述示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié),而且在不背離本發(fā)明的精神或基本特征的情況下,能夠以其他的具體形式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。因此,無論
從哪一點(diǎn)來看,均應(yīng)將實(shí)施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)
利要求而不是上述說明限定,因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有
變化囊括在本發(fā)明內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記視為限制所涉及的權(quán)利要求。
[0055] 此外,應(yīng)當(dāng)理解,雖然本說明書按照實(shí)施例加以描述,但并非每個(gè)實(shí)施例僅包含一個(gè)獨(dú)立的技術(shù)方案,說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說
明書作為一個(gè)整體,各實(shí)施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合,形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以
理解的其他實(shí)施方式。
聲明:
“檢測(cè)布氏硬度計(jì)實(shí)驗(yàn)壓痕用檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)