本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)
芯片的性能檢測(cè)方法和系統(tǒng),其中,方法包括:步驟S1:獲取存儲(chǔ)芯片的標(biāo)識(shí)信息;步驟S2:基于標(biāo)識(shí)信息確定檢測(cè)方案;步驟S3:基于檢測(cè)方案對(duì)存儲(chǔ)芯片進(jìn)行性能檢測(cè),輸出性能檢測(cè)報(bào)告;其中,標(biāo)識(shí)信息包括:材質(zhì)、型號(hào)、容量、存儲(chǔ)速度、工作溫度、響應(yīng)時(shí)間其中一種或多種結(jié)合。本發(fā)明的存儲(chǔ)芯片的性能檢測(cè)方法,根據(jù)存儲(chǔ)芯片的標(biāo)識(shí)信息采用針對(duì)的檢測(cè)方案,實(shí)現(xiàn)全方位的性能檢測(cè)。
聲明:
“一種存儲(chǔ)芯片的性能檢測(cè)方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)