基于AFM的納米機(jī)械性能檢測(cè)裝置,它涉及的是納米機(jī)械性能檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域。它是為解決現(xiàn)有測(cè)量方法存在其檢測(cè)設(shè)備價(jià)格昂貴,現(xiàn)有的AFM系統(tǒng)不能夠直接提供反映表面機(jī)械性能的壓痕過(guò)程曲線及不能測(cè)量按一定速率加載的刻劃過(guò)程的摩擦力信號(hào)的問(wèn)題。主控計(jì)算機(jī)(1)通過(guò)串行通信電路(2)、第一單片機(jī)(4)、光電隔離電流環(huán)串行接口通道(8)、第三單片機(jī)(11)、三路D/A轉(zhuǎn)換電路(12)及第二單片機(jī)(9)、兩路A/D轉(zhuǎn)換電路(10)分別連接二維工作臺(tái)控制器(13)、二維工作臺(tái)(14)與AFM系統(tǒng)(15)。它還具有制造成本價(jià)格便宜,能夠直接提供反映表面機(jī)械性能的壓痕過(guò)程曲線及能按一定速率加載的刻劃過(guò)程的摩擦力信號(hào)。點(diǎn)陣壓痕的最大范圍為100ΜM×100ΜM,刻劃長(zhǎng)度為100NM~100ΜM。
聲明:
“基于AFM的納米機(jī)械性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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