本發(fā)明提供了一種LED光電性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法,包括:TEC控制器、加熱平臺(tái)、水箱、光電
檢測(cè)儀;其中,TEC控制器與加熱平臺(tái)電連接,用于控制加熱平臺(tái)的溫度;水箱通過(guò)水管與加熱平臺(tái)連接,用于快速冷卻加熱平臺(tái);加熱平臺(tái)放置于光電檢測(cè)儀的置物臺(tái)的一個(gè)端面上,用于控制待檢測(cè)LED器件的工作溫度。從而實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)檢測(cè)LED器件在不同恒定溫度下的光電性能,檢測(cè)的溫度范圍更廣,能夠檢測(cè)LED器件在低溫與高溫情況下的光電性能,模擬LED器件在極端條件下照明情況;同時(shí),也解決了目前冷熱沖擊系統(tǒng)降溫升溫慢的問(wèn)題,并且能夠檢測(cè)LED器件在溫度突變的情況下的光電性能,模擬LED器件照明在溫度沖擊條件下的光電性能。
聲明:
“LED光電性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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