本實(shí)用新型涉及檢測裝置,具體是一種集成電路電磁抗擾性能檢測裝置,屬于檢測電路領(lǐng)域;其檢測裝置包括:檢測模塊、計(jì)算模塊、示波模塊和報(bào)告模塊。本實(shí)用新型通過設(shè)置一種集成電路電磁抗擾性能檢測裝置,通過對集成電路中的電流通過檢測模塊進(jìn)行檢測,同時(shí)檢測信號發(fā)送至計(jì)算模塊進(jìn)行得出各項(xiàng)參數(shù),并通過示波模塊和報(bào)告模塊進(jìn)行得出此時(shí)的集成電路內(nèi)部的電磁高低,從而得出集成電路的電磁抗擾性能,從而本實(shí)用新型可以有效的了解集成電路的干擾情況,并可以減少在工作中出現(xiàn)的工作不穩(wěn)定情況。
聲明:
“一種集成電路電磁抗擾性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)