本實(shí)用新型提供了一種電性能檢測(cè)機(jī),包括工作臺(tái)、位于工作臺(tái)上的測(cè)試儀和圓盤(pán),所述圓盤(pán)上沿圓周方向均勻設(shè)置有用于放置電子元件的卡槽,所述卡槽沿圓周邊緣設(shè)有缺口,所述工作臺(tái)位于圓盤(pán)缺口下方設(shè)有用于方便運(yùn)輸電子元件的收集裝置。所述收集裝置包括傾斜設(shè)置的滑道,所述滑道靠近圓盤(pán)一端開(kāi)口朝向缺口下方,所述滑道遠(yuǎn)離圓盤(pán)一端下方設(shè)有收集框。所述滑道遠(yuǎn)離圓盤(pán)一端開(kāi)口設(shè)有用于緩沖滑落的電子元件的擋片,所述擋片位于滑道遠(yuǎn)離圓盤(pán)一端開(kāi)口的下方。上述技術(shù)方案解決了無(wú)法方便對(duì)電子元件進(jìn)行收集的問(wèn)題,本實(shí)用新型提供了一種收集方便快速的電性能檢測(cè)機(jī)。
聲明:
“電性能檢測(cè)機(jī)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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