本發(fā)明公開了一種控制電路板的電性能檢測設(shè)備,其包括:一個測試臺架、一個測試單元、一個頭架及一個檢測控制單元。測試單元包括:一個測試板、多個上電端子、多個檢測端子及多個測試端子。頭架包括:一對檢測頭支撐柱、一個梁架、一個升降導(dǎo)軌、一個升降壓板及多個壓針。檢測控制單元包括,多個輸入端口、多個輸出驅(qū)動端口及一個控制器。本發(fā)明中提供控制電路板的電性能檢測設(shè)備。本發(fā)明可根據(jù)對具有多傳感器觸發(fā)輸入端的控制板檢測,同時加載多個傳感器觸發(fā)信息,提高了控制電路板的自動化程度且可有效防止漏檢的情況出現(xiàn),結(jié)構(gòu)簡單、易于實施。
聲明:
“一種控制電路板的電性能檢測設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)