本發(fā)明公開了一種光學材料性能檢測裝置,屬于材料性能測試技術領域,能夠解決現(xiàn)有裝置不能提供光學材料二階非線性光學信號檢測區(qū)域處準確可靠的粒度信息,從而不能準確反映光學材料的二階非線性光學性能的問題。所述檢測裝置包括:樣品臺,用于放置待測樣品;圖像采集模塊,設置在樣品臺的上方,用于采集待測樣品的待測區(qū)域的圖像;處理模塊,用于根據待測區(qū)域的圖像獲取待測區(qū)域中待測樣品的粒度信息。本發(fā)明用于光學材料的二階非線性光學性能分析。
聲明:
“一種光學材料性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)