本實(shí)用新型公開了一種元件性能檢測(cè)工裝,涉及電子生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域,包括一元件安裝平臺(tái),在所述元件安裝平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,在所述元件安裝位的兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試端,所述兩側(cè)的測(cè)試端通過排線分別連接至輸入端和輸出端。采用上述技術(shù)方案,由于在一個(gè)平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)元器件,并且通過排線將多個(gè)元件安裝位的測(cè)試端連接再一起,通過單一的輸入端和輸出端連接既可以完成測(cè)試,提升了元器件的測(cè)試效率。
聲明:
“一種元件性能檢測(cè)工裝” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)