本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測(cè)裝置,包括檢測(cè)裝置,所述檢測(cè)裝置包括以下步驟:步驟1:提供待檢測(cè)設(shè)備,置于檢測(cè)平臺(tái)上;步驟2:在高溫狀態(tài)下通電30分鐘,檢測(cè)30分鐘內(nèi)待檢測(cè)設(shè)備的溫度線性變化斜率K1;步驟3:待步驟2中的待檢測(cè)設(shè)備冷卻至常溫狀態(tài),再次通電30分鐘,檢測(cè)30分鐘內(nèi)待檢測(cè)設(shè)備的溫度線性變化斜率K2;步驟4:將K1,K2與閾值范圍H比較,超出H范圍標(biāo)記為不合格,不超出H范圍標(biāo)記為合格。所述閾值范圍H根據(jù)實(shí)際待測(cè)器件的大小種類具體設(shè)定。所述檢測(cè)平臺(tái)底部設(shè)置溫度探測(cè)器和控制器,所述溫度探測(cè)器探測(cè)檢測(cè)平臺(tái)的溫度并發(fā)送至控制器,控制器接收溫度信息并根據(jù)預(yù)設(shè)的閾值范圍H判斷。
聲明:
“一種半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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