本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N寬溫域二維伸展流變儀、高分子薄膜性能檢測(cè)裝置及方法,所述寬溫域二維伸展流變儀通過(guò)氣體進(jìn)行吹膜,實(shí)現(xiàn)對(duì)高分子薄膜的二維均勻拉伸,且能夠控制變溫速率降到所需低溫,或者升到所需高溫,模擬高低溫苛刻環(huán)境下高分子薄膜結(jié)構(gòu)演化,探索高分子材料在寬溫域下的使用性能。并且,設(shè)置有入光窗口和出光窗口,能夠與同步輻射X射線散射線站聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)原位研究高分子薄膜拉伸過(guò)程中結(jié)構(gòu)演化行為與高低溫苛刻條件下使用性能的關(guān)系。
聲明:
“寬溫域二維伸展流變儀、高分子薄膜性能檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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