本實(shí)用新型公開(kāi)一種用于檢測(cè)微型LED
芯片(1)質(zhì)量的分檢裝置,微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多個(gè)LED晶片(11);多個(gè)LED晶片(11)具有共同的第一負(fù)電極(12),且分別具有獨(dú)立的第一正電極(13);分檢裝置包括電性能檢測(cè)單元(2),電性能檢測(cè)單元(2)包括檢測(cè)單元主體(21)以及一個(gè)第二正電極(22)和一個(gè)第二負(fù)電極(23)。通過(guò)將多個(gè)LED晶片(11)以共陰極和共陽(yáng)極的方式電連接到電性能檢測(cè)單元(2)上,當(dāng)電性能檢測(cè)單元(2)與外界電源連接時(shí),多個(gè)LED晶片(11)相當(dāng)于并聯(lián)形式連接到電源上,從而同時(shí)檢測(cè)出多個(gè)LED晶片(11)的發(fā)光情況,完成分區(qū)域檢測(cè),較以往單顆點(diǎn)亮提高了效率,微型LED得以實(shí)現(xiàn)快速質(zhì)量檢測(cè)。
聲明:
“一種用于檢測(cè)微型LED芯片質(zhì)量的分檢裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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