本發(fā)明涉及電學性能檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種可調(diào)節(jié)式探針裝置??烧{(diào)節(jié)式探針裝置包括底座、第一電路板、橫向調(diào)節(jié)裝置、第一縱向調(diào)節(jié)裝置和多根檢測探針;檢測探針與第一電路板可拆卸連接;第一電路板與第一縱向調(diào)節(jié)裝置連接;第一縱向調(diào)節(jié)裝置與橫向調(diào)節(jié)裝置連接;橫向調(diào)節(jié)裝置與底座連接。本發(fā)明提供的可調(diào)節(jié)式探針裝置,通過將檢測探針可拆卸的設(shè)置在電路板上,使得既能夠改變檢測探針的數(shù)量,又能夠根據(jù)檢測探針的安裝位置,改變檢測探針的間距,在進行電學性能檢測時,不需要制備多個探針臺,減少了使用成本;通過縱向調(diào)節(jié)裝置和橫向調(diào)節(jié)裝置的設(shè)置,使得檢測探針的檢測位置調(diào)節(jié)方便,增加了探測范圍。
聲明:
“可調(diào)節(jié)式探針裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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