本發(fā)明公開了一種用于涂層耐蝕性原位測試的方法及其專用
電化學探頭。本發(fā)明用于涂層耐蝕性原位測試的方法,通過將探頭借助負壓直接吸附在被檢測涂層表面,無需破壞涂層,即可進行金屬基、陶瓷基、非金屬材料基等涂層的檢測,可實現(xiàn)在役裝備涂層、涂層樣品的原位無損檢測,保證試驗結果的重復性,適用于各種涂層材料的耐蝕性能檢測。其專用電化學探頭,裝置結構簡單,可設計性強,適用面廣,另外,還有操作方便,效率高等優(yōu)點。
聲明:
“一種用于涂層耐蝕性原位測試的電化學探頭及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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