本發(fā)明公開了OIS技術(shù)領(lǐng)域的一種OIS測試設(shè)備;包括測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架、上料架和上料盤,固定測試架和上料架呈水平對稱設(shè)置于測試轉(zhuǎn)盤兩側(cè),測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架和上料架的底部共同設(shè)置底板,測試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤,轉(zhuǎn)盤上對稱設(shè)置有四個(gè)固定裝置,轉(zhuǎn)盤的上方設(shè)置固定板,固定板靠近上料架一側(cè)的頂部設(shè)有推動(dòng)氣缸。本發(fā)明的有益效果是:實(shí)現(xiàn)OIS零部件的自動(dòng)上料,減少OIS零部件性能檢測時(shí)的人工成本浪費(fèi)。同時(shí)通過多個(gè)固定裝置上的多個(gè)放置槽進(jìn)行OIS零部件的放置,使一次動(dòng)作即可對兩個(gè)OIS零部件進(jìn)行同一項(xiàng)性能測試,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)OIS零部件的性能比對測試,使OIS零部件的測試結(jié)果更加趨向于單批次零部件的平均水平。
聲明:
“一種OIS測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)