本發(fā)明的實施例公開一種檢測電子設備卡頓的方法、裝置及電子設備,涉及電子設備性能檢測技術,無需用戶退出正在使用的軟件,再進行卡頓的檢測。所述檢測電子設備卡頓的方法包括:在監(jiān)測到應用程序啟動時,調(diào)用預先安裝在所述應用程序的界面中的清理應用程序檢測并得到電子設備運行參數(shù);查詢預先存儲的電子設備參數(shù)與電子設備優(yōu)化策略的映射關系集,獲取所述電子設備運行參數(shù)映射的電子設備優(yōu)化策略;按照所述電子設備運行參數(shù)映射的電子設備優(yōu)化策略對所述電子設備進行優(yōu)化。本發(fā)明適用于對電子設備運行進行優(yōu)化。
聲明:
“一種檢測電子設備卡頓的方法、裝置及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)