本發(fā)明涉及硬盤性能測試領(lǐng)域,具體涉及一種基于fio與ipmitool的硬盤來料檢驗(yàn)方法,實(shí)現(xiàn)了對硬盤的自動化檢測,極大地提高了檢測效率以及準(zhǔn)確性。技術(shù)方案包括:設(shè)置來料檢驗(yàn)需要的循環(huán)開關(guān)機(jī)次數(shù),確定需要收集信息的待測硬盤以及收集硬盤smart信息的方式,通過fio工具對待測硬盤進(jìn)行IO讀寫,在待測硬盤IO讀寫進(jìn)行時,通過ipmitool工具進(jìn)行服務(wù)器重啟,強(qiáng)制中斷待測硬盤的IO讀寫過程,并重新啟動服務(wù)器運(yùn)行,重啟后,自動收集所有硬盤的smart信息,并生成測試結(jié)果文件存放路徑,將記錄硬盤的smart信息日志文件存放到路徑目錄下,目錄名稱與循環(huán)次數(shù)相關(guān)聯(lián),循環(huán)完成后,對整個過程的日志文件進(jìn)行自動識別、分析、判斷,輸出測試結(jié)果。本發(fā)明適用于硬盤性能檢測。
聲明:
“基于fio與ipmitool的硬盤來料檢驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)