本發(fā)明提供了一種可設(shè)置脈寬范圍更廣,脈沖邊沿時間更短,且能拓展觸發(fā)外接儀器,進行時序控制數(shù)據(jù)采集的可靠的新型光電接近傳感器的電性能測試系統(tǒng)。本發(fā)明包括TIB主控制板(1)、LED測量系統(tǒng)(2)、PD測量系統(tǒng)(3)及上位機(4),TIB主控制板分別與LED測量系統(tǒng)、上位機及待測產(chǎn)品(5)電信號連接,PD測量系統(tǒng)與待測產(chǎn)品的PD部相連接,LED測量系統(tǒng)包括脈沖發(fā)生器(21)和電壓電流采集測量儀器(22),TIB主控制板包括主控MCU(11)、觸發(fā)電路(12)和輸入脈沖電流切換模塊(13),觸發(fā)電路觸發(fā)電壓電流采集測量儀器的工作狀態(tài)。本發(fā)明可應(yīng)用于光電產(chǎn)品性能檢測領(lǐng)域。
聲明:
“一種新型光電接近傳感器的電性能測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)