本申請公開了一種磁鐵片檢測方法、系統(tǒng)、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì),獲取待檢測磁鐵片的目標(biāo)圖像;獲取預(yù)設(shè)的待檢測區(qū)域模板;基于間接平差方法,在目標(biāo)圖像中確定與待檢測區(qū)域模板對應(yīng)的待檢測區(qū)域;計算待檢測區(qū)域的灰度值信息;基于灰度值信息及預(yù)設(shè)閾值,確定待檢測磁鐵片的檢測結(jié)果。本申請中,通過間接平差方法可以快速在目標(biāo)圖像中確定與待檢測區(qū)域模板對應(yīng)的待檢測區(qū)域,并且只需計算待檢測區(qū)域的灰度值信息,便可以基于灰度值信息及預(yù)設(shè)閾值,確定待檢測磁鐵片的檢測結(jié)果,快速對待檢測磁鐵片進(jìn)行性能檢測。本申請?zhí)峁┑囊环N磁鐵片檢測系統(tǒng)、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)也解決了相應(yīng)技術(shù)問題。
聲明:
“一種磁鐵片檢測方法、系統(tǒng)、設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)