本申請公開了一種性能測試方法、裝置、介質(zhì),包括:控制第一閾值數(shù)量的虛擬存儲設(shè)備同時工作,測量各虛擬存儲設(shè)備的性能以獲取第一測量性能值,第一閾值數(shù)量為物理存儲設(shè)備能夠支持的虛擬存儲設(shè)備的最大數(shù)量,由于各虛擬存儲設(shè)備的性能主要與同時運行的虛擬存儲設(shè)備的數(shù)量有關(guān),因此使全部虛擬存儲設(shè)備同時工作,能夠獲取能夠準(zhǔn)確體現(xiàn)存儲設(shè)備性能的數(shù)據(jù)。判斷各第一測量性能值是否滿足第一預(yù)設(shè)條件,若滿足第一預(yù)設(shè)條件,則確定物理存儲設(shè)備性能測試合格。本申請所提供的方法,在物理存儲設(shè)備中使第一閾值數(shù)量的虛擬存儲設(shè)備同時工作,將運行的虛擬存儲設(shè)備數(shù)量這一影響因素加入檢測方法中,使性能檢測能夠準(zhǔn)確反映出各個物理存儲設(shè)備的性能。
聲明:
“一種性能測試方法、裝置、介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)