本實(shí)用新型是屬半導(dǎo)體器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。其主要解決集成電路性能檢測(cè)的技術(shù)問題,提供一種通用集成電路測(cè)試儀。其主要技術(shù)特征在于設(shè)計(jì)了由44只阻值相同的電阻組成完全相同的兩個(gè)集成塊模擬工作條件,采用運(yùn)算放大器組成了運(yùn)算判斷和閾值調(diào)節(jié)電路,由發(fā)光二極管顯示。其用途是能迅速定性地判斷被測(cè)集成塊的好壞,同時(shí)半定量地反映其質(zhì)量的穩(wěn)定程度,為集成電路的研究、生產(chǎn)、銷售,應(yīng)用和維修提供了實(shí)用測(cè)試儀器。
聲明:
“通用集成電路測(cè)試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)