本實(shí)用新型公開一種適用于電子元器件絕緣性能的檢測(cè)裝置,包括殼體,所述殼體內(nèi)部上段從上至下依序設(shè)有按鈕、連接組件和氖泡以及高電阻塊;殼體內(nèi)部下段設(shè)有測(cè)試盤,測(cè)試盤頂部連接有第一連接柱,第一連接柱上部與高電阻塊底部相連接,測(cè)試盤底部設(shè)有用于夾持電子元器件的夾持裝置,其中,殼體與按鈕之間設(shè)有限位組件。本實(shí)用新型構(gòu)造簡(jiǎn)易、設(shè)計(jì)新穎合理,利用夾持結(jié)構(gòu),使電子元器件絕緣性能檢測(cè)裝置固定在電子元器件上,在測(cè)定電子元器件絕緣性臨界電壓時(shí)無需手持,不需要手持該裝置一直接觸電子元器件,避免人員受到意外,同時(shí)便于使用人員的操作,減少使用人員的工作量。
聲明:
“一種適用于電子元器件絕緣性能的檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)