本實用新型公開一種半導(dǎo)體器件用測試座,包括:PCB基板、至少一組左側(cè)測試組片、至少一組右側(cè)測試組片、左安裝座和右安裝座;所述左側(cè)測試組片、右側(cè)測試組片均由平行且豎直設(shè)置的第一測試片、第二測試片組成,且第一測試片、第二測試片之間具有絕緣層,此第一測試片、第二測試片均由中央片區(qū)、位于中央片區(qū)兩端的第一引腳、第二引腳和位于中央片區(qū)下端的第三引腳組成;所述左側(cè)測試組片、右側(cè)測試組片中第一測試片的第三引腳和第二測試片的第三引腳呈對稱設(shè)置。本實用新型電性能檢測裝置增強了測試組片的引腳與待測半導(dǎo)體
芯片的接觸壓強,有利于提高測試組片的引腳與待測半導(dǎo)體芯片電接觸的可靠性,也提高了使用壽命。
聲明:
“半導(dǎo)體器件用測試座” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)