本申請(qǐng)公開了一種電子雷管的檢測(cè)方法、檢測(cè)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:獲取檢測(cè)設(shè)備當(dāng)前狀態(tài)對(duì)應(yīng)的第一產(chǎn)品類型,及獲取處于選中狀態(tài)的類型開關(guān)對(duì)應(yīng)的第二產(chǎn)品類型,并將所述第一產(chǎn)品類型與第二產(chǎn)品類型相比較;當(dāng)?shù)谝划a(chǎn)品類型與第二產(chǎn)品類型相同時(shí),提取所述第一產(chǎn)品類型對(duì)應(yīng)的檢測(cè)策略,根據(jù)所述檢測(cè)策略對(duì)待檢測(cè)電子雷管進(jìn)行檢測(cè)。本申請(qǐng)通過對(duì)電子雷管
芯片加工、電子雷管半成品加工以及電子雷管成品采用不同的檢測(cè)策略,這樣既可以保證產(chǎn)品的質(zhì)量,又可以提高電子雷管的成品率。
聲明:
“一種電子雷管的檢測(cè)方法、檢測(cè)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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