本發(fā)明提供了一種適用于核心元器件國產(chǎn)化繼電保護(hù)的測試性指標(biāo)評價(jià)方法,能夠?yàn)槔^電保護(hù)裝置全面國產(chǎn)化過程中的研發(fā)、測試提供測試性方面的理論支撐,也適用于全國產(chǎn)化繼電保護(hù)裝置的運(yùn)行、維護(hù)等各個(gè)階段。首先,構(gòu)建適用于核心元器件國產(chǎn)化繼電保護(hù)的測試性指標(biāo)體系;根據(jù)繼電保護(hù)實(shí)際運(yùn)行需求選取特定的測試性指標(biāo)作為底層指標(biāo);為上述底層指標(biāo)按重要性賦權(quán);根據(jù)電網(wǎng)實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)確定所述底層指標(biāo)的實(shí)測值,查找相關(guān)資料確定所述底層指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)值;將所述底層指標(biāo)的實(shí)測值和所述標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對比,并將實(shí)測值轉(zhuǎn)化為評分值,最后根據(jù)上述賦權(quán)結(jié)果獲得核心元器件國產(chǎn)化繼電保護(hù)的測試性指標(biāo)值。
聲明:
“一種適用于核心元器件國產(chǎn)化繼電保護(hù)的測試性指標(biāo)評價(jià)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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