本發(fā)明涉及一種片式電感器的篩選方法,包括如下步驟:A、準(zhǔn)備,將片式電感器放入金屬裝載盤中,并預(yù)熱高溫試驗(yàn)箱、負(fù)溫試驗(yàn)箱;B、低溫貯存,將裝好片式電感器的裝載盤放入負(fù)溫試驗(yàn)箱,保持若干小時(shí);C、第一次恢復(fù),將片式電感器連同裝載盤室溫下放置0.5H~24H,檢查有無(wú)機(jī)械損傷;D、高溫貯存,將裝好片式電感器的裝載盤放入高溫試驗(yàn)箱,保持若干時(shí)間;E、第二次恢復(fù),將片式電感器連同裝載盤室溫下放置0.5H~24H,檢查有無(wú)機(jī)械損傷;F、后期檢測(cè),對(duì)片式電感器進(jìn)行檢測(cè),剔出不良品。通過(guò)低溫貯存及恢復(fù)、高溫貯存及恢復(fù),再進(jìn)行檢測(cè),可有效淘汰早期失效電感器,減少因電感器失效引起的系統(tǒng)或設(shè)備早期失效,確??煽啃?。
聲明:
“一種片式電感器的篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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