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一種硬盤性能測試方法、系統(tǒng)、電子設備及可讀存儲介質

734   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 06:32:25
本申請公開了一種硬盤性能測試方法、系統(tǒng)、電子設備及可讀存儲介質,涉及服務器領域,該性能測試方法應用于處理裝置,包括當檢測到硬盤的性能測試異常,獲取系統(tǒng)日志和硬盤日志;通過所述系統(tǒng)日志和所述硬盤日志確定測試異常原因;基于所述測試異常原因選擇目標性能測試;對所述硬盤執(zhí)行所述目標性能測試,并重復所述當檢測到硬盤的性能測試異常,獲取系統(tǒng)日志和硬盤日志的操作,直至得到所述硬盤的性能測試結果。本申請相較于人工分析更準確、更可靠、更全面,且無需等到性能測試完全結束再進行分析和判定,提高硬盤的性能測試效率。
聲明:
“一種硬盤性能測試方法、系統(tǒng)、電子設備及可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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