本發(fā)明涉及一種太赫茲波性能的檢測(cè)裝置和方法,采用了具有可調(diào)諧反射空間太赫茲波效果的本征鍺材料平板、拋物面鏡、二維掃描振鏡和兩個(gè)一維直流電機(jī),將本征鍺材料平板固定在太赫茲準(zhǔn)直光束傳輸?shù)穆窂街?,通過(guò)調(diào)節(jié)二維掃描振鏡,使縮束后的光束掃描本征鍺材料的不同空間位置,反射需要探測(cè)的區(qū)域,同時(shí)用電光晶體探測(cè)太赫茲光束的時(shí)域光譜,最后通過(guò)后期頻譜分析處理,即可實(shí)現(xiàn)太赫茲光束不同區(qū)域內(nèi)電場(chǎng)幅度、頻率和相位的數(shù)據(jù)提取??梢越鉀Q國(guó)際上對(duì)源特征探測(cè)的科學(xué)難題,為后期的科學(xué)研究工作奠定基礎(chǔ),在實(shí)際應(yīng)用中可以幫助使用者針對(duì)不同的源采用不同的特征選取手段,提高太赫茲波的應(yīng)用效率。
聲明:
“一種太赫茲波性能的檢測(cè)裝置和方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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