本發(fā)明公布了一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試方法和裝置,包括以下步驟:通過標(biāo)準(zhǔn)輻射源模擬觸頭電火花,通過MCU控制器控制電觸頭接觸頻率、接觸電阻的測量頻率,通過四端子法測量電觸頭的接觸電阻,通過放大濾波板去除噪聲,得到接觸電阻值,在MCU控制器中調(diào)用故障檢測算法,據(jù)此判斷絕緣材料對電觸頭的電氣性能影響。本發(fā)明通過標(biāo)準(zhǔn)輻射源模擬電火花,通過電觸頭接觸電阻的阻值變化來判斷絕緣材料對電觸頭電氣性能的影響,各影響因素均可標(biāo)準(zhǔn)化,以實(shí)現(xiàn)絕緣材料的選擇。本發(fā)明的檢測條件客觀標(biāo)準(zhǔn),檢測結(jié)果可重復(fù),可靠性強(qiáng)。
聲明:
“一種基于輻射源方式的絕緣材料的測試方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)