本發(fā)明涉及一種改進(jìn)的電致化學(xué)發(fā)光
分析檢測裝置,屬于分析測試領(lǐng)域。電致化學(xué)發(fā)光所涉工作電極及對電極十分容易受到電解產(chǎn)生的有機(jī)類物質(zhì)的吸附污染,尤其是在采用玻碳電極作為工作電極的情形下,所述吸附污染更為嚴(yán)重,所述吸附污染會導(dǎo)致所述電極的電極性能快速衰減,本案旨在解決該問題。本案裝置的結(jié)構(gòu)中包括電解池以及插在電解池中的工作電極、對電極以及參比電極,重點(diǎn)是,裝置的結(jié)構(gòu)中包括桿狀超聲波探頭,該桿狀超聲波探頭的工作端深入電解池的內(nèi)部。本案以低功率的并且頻率高達(dá)80KHz以上的超聲波對電解池內(nèi)的所述電極進(jìn)行即時的清潔,以此方式,阻止所述電極被有機(jī)類電解產(chǎn)物吸附污染的進(jìn)程,從而遏制了所述電極性能的快速衰減。
聲明:
“改進(jìn)的電致化學(xué)發(fā)光分析檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)