本發(fā)明公開了一種基于原位光譜?
電化學(xué)分析技術(shù)的膜污染監(jiān)測裝置及方法,該裝置包括帶有頂壁的過濾池1,分離膜片3,左池設(shè)置有進(jìn)水口4,右池設(shè)置有出水口5,一端帶有環(huán)狀結(jié)構(gòu)的工作電極7貫穿設(shè)置在左池中間的頂壁上,光纖探頭8貫穿左池的左壁、穿過工作電極的環(huán)并使右端設(shè)置在近分離膜片3處,片狀對電極9貫穿設(shè)置在右池中間的頂壁上,在左池的后壁的右下位置,貫穿設(shè)置有第一Ag/AgCl參比電極10,在右池的后壁的左下位置,貫穿設(shè)置有第二Ag/AgCl參比電極11,本發(fā)明的裝置能在線監(jiān)測分析不同分離膜片污染情況,從而制定合適的清洗方案,且操作簡便、測量速度快,易于工業(yè)化,測量準(zhǔn)確度高、靈敏度高、占地少、可操控性強(qiáng)。
聲明:
“基于原位光譜?電化學(xué)分析技術(shù)的膜污染監(jiān)測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)