本實(shí)用新型涉及粒度檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種礦漿粒度檢測(cè)設(shè)備,包括:入料系統(tǒng)、漿料處理系統(tǒng)、光照檢測(cè)系統(tǒng)和輸送系統(tǒng);所述入料系統(tǒng)將待檢測(cè)漿料導(dǎo)入所述漿料處理系統(tǒng);所述漿料處理系統(tǒng)包括過(guò)濾篩;所述輸送系統(tǒng)將截留后的待檢測(cè)漿料傳輸至所述光照檢測(cè)系統(tǒng);所述光照檢測(cè)系統(tǒng)包括圖像采集裝置、檢測(cè)室和處理器,所述檢測(cè)室上設(shè)置有窗口,截留后的待檢測(cè)漿料流經(jīng)所述檢測(cè)室,所述圖像采集裝置設(shè)置在所述檢測(cè)室的外側(cè),且與所述窗口相對(duì);所述處理器與所述圖像采集裝置電連接,根據(jù)所述圖像采集裝置采集的圖像信息反饋待檢測(cè)漿料的粒度信息。無(wú)需將礦漿中的顆粒分離、烘干、稱重,檢測(cè)流程簡(jiǎn)便有效地降低了生產(chǎn)成本、提高了生產(chǎn)效率。
聲明:
“礦漿粒度檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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