本發(fā)明公開了一種針對器件微放電抑制的多尺度關(guān)聯(lián)分析方法,該方法涉及原子至納米尺度、微米尺度和毫米至厘米尺度三個尺度,主要包括各個尺度上的參數(shù)計算和各尺度間的關(guān)聯(lián)邏輯。原子至納米尺度即材料化學組分與原子幾何結(jié)構(gòu)層面,表面微觀結(jié)構(gòu)層面屬于微米尺度,而微波器件層面屬于毫米至厘米尺度。該方法是一種從材料到表面再到器件的關(guān)聯(lián)分析與設(shè)計方法。而且此關(guān)聯(lián)分析方法成本低、周期短、效率高,為微放電實驗的開展節(jié)省了大量的時間和無效試錯成本。
聲明:
“針對器件微放電抑制的多尺度關(guān)聯(lián)分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)