本發(fā)明提供了一種核電耐高溫硅樹脂基中子屏蔽材料可靠性的評(píng)估方法,通過獲取目標(biāo)中子屏蔽材料第一樣品,將一部分進(jìn)行輻照老化處理得到第二樣品,將另一部分采用不同的預(yù)設(shè)溫度進(jìn)行熱老化處理得到第三樣品,將部分第二樣品進(jìn)行輻照熱耦合老化處理得到第四樣品,分別將部分第三和第四樣品進(jìn)行事故工況浸泡處理,得到第五樣品和第六樣品,再分別將通過熱老化、輻照熱耦合老化和事故工況浸泡處理后的樣品進(jìn)行物理微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分表征檢測(cè),并將第一至第六樣品的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比分析,得到在上述處理?xiàng)l件下的變化規(guī)律,以此評(píng)估中子屏蔽材料在核電廠設(shè)計(jì)工況下的服役可靠性。本發(fā)明提高了中子屏蔽材料服役可靠性檢測(cè)和評(píng)估的準(zhǔn)確性、有效性。
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“核電耐高溫硅樹脂基中子屏蔽材料可靠性的評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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