本發(fā)明公開一種用于表面解吸常壓化學(xué)電離源的調(diào)節(jié)裝置,包括安裝接口、Y向平移調(diào)節(jié)模塊、Z向平移調(diào)節(jié)模塊、A軸角度調(diào)節(jié)模塊、離子源噴頭、綜合接口、進(jìn)樣Z向自動(dòng)調(diào)節(jié)模塊、進(jìn)樣X向自動(dòng)進(jìn)給模塊與進(jìn)樣Y向手動(dòng)調(diào)節(jié)模塊。該裝置可精確定量調(diào)節(jié)離子源噴頭與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口的角度α、離子源噴頭與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口的Z向距離a1、離子源噴頭與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口的Y向距離b1、樣品臺(tái)與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口的Z向距離a2、樣品臺(tái)與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口的Y向距離b2。該裝置適用于研究與優(yōu)化配置離子源噴頭、樣品臺(tái)與質(zhì)譜儀進(jìn)樣口之間的空間位置參數(shù)與信號(hào)強(qiáng)度的關(guān)系,特別適用于快速批量檢測(cè)固體樣品以及對(duì)連續(xù)分布的樣品進(jìn)行質(zhì)譜成像。
聲明:
“上置式極坐標(biāo)調(diào)節(jié)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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