本發(fā)明涉及電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,公開了電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)選取方法,包括:采集電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù),對電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)進行處理得到少數(shù)缺陷類電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)樣本集;用環(huán)境狀態(tài)作為輸入以訓(xùn)練電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)選取網(wǎng)絡(luò),得到目標網(wǎng)絡(luò);其中,環(huán)境狀態(tài)即電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù);測試目標網(wǎng)絡(luò)的對電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)的分類性能;本發(fā)明的選取電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò),采用強化學(xué)習(xí)算法,面對不同的當(dāng)前環(huán)境狀態(tài),將是否選取樣本視為離散動作,采取最合適的動作來轉(zhuǎn)換狀態(tài)使得回報函數(shù)最大化,提高電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)分類的準確性。
聲明:
“電網(wǎng)缺陷數(shù)據(jù)選取方法、裝置、設(shè)備和介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)