本發(fā)明提供的是一種高精度超聲無(wú)損檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。超聲探頭組件包括一個(gè)發(fā)射探頭和兩個(gè)接收探頭。發(fā)射探頭發(fā)出的超聲波經(jīng)過(guò)楔形塊的折射而入射到機(jī)械結(jié)構(gòu)件內(nèi)部,并在缺陷的邊緣產(chǎn)生衍射波。對(duì)兩個(gè)接收探頭所接收超聲衍射波的檢測(cè)與測(cè)量可以得到傳播時(shí)間tS1和tS2。由三個(gè)的超聲波探頭位置參數(shù)、傳播時(shí)間tS1和tS2所對(duì)應(yīng)的傳播距離TL1與TL2參數(shù)形成了焦距、端點(diǎn)參數(shù)不同的兩個(gè)橢圓。通過(guò)橢圓方程組的結(jié)算便可獲得缺陷上端、下端邊緣的坐標(biāo)值,由此可以計(jì)算出缺陷的長(zhǎng)度L、傾斜角α、缺陷深度d幾何參數(shù)。通過(guò)探頭組件中安裝的CMOS圖像傳感器給出的(Δx,Δy)位移參數(shù)與缺陷測(cè)量值的數(shù)據(jù)融合,便可以繪制缺陷的高精度三維圖像。
聲明:
“超聲無(wú)損檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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